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防潮箱的應(yīng)用和選型不當(dāng)存在的問(wèn)題
點(diǎn)擊次數(shù):441 發(fā)布時(shí)間:2014-11-3
的應(yīng)用和選型不當(dāng)存在的問(wèn)題潮濕氣體會(huì)透過(guò)封裝材料及元器件的接合面進(jìn)入到IC器件的內(nèi)部,造成內(nèi)部電路氧化腐蝕短路,以及組焊接過(guò)程中的高溫會(huì)使進(jìn)入IC內(nèi)部的潮濕氣體受熱膨脹產(chǎn)生壓力,使塑料從芯片或引腳框上的內(nèi)部分離(脫層)、線捆接損傷、芯片損傷、內(nèi)部裂紋和延伸到元件表面的裂紋,甚至發(fā)生元件鼓脹和爆裂,又稱為“爆米花”,這將導(dǎo)致組裝件返修甚至報(bào)廢。更為重要的是那些看不見(jiàn)的、潛在的缺陷會(huì)溶入到產(chǎn)品中去,使產(chǎn)品的可靠性出現(xiàn)問(wèn)題。而非IC類電子元件,也存在潮濕的危害問(wèn)題。 潮濕對(duì)電子元器件的危害,已成為一項(xiàng)非常嚴(yán)峻的事情,隨著潮濕敏感性元件使用的增加,諸如薄的密間距元件和球柵陣列,這個(gè)問(wèn)題就越嚴(yán)重,對(duì)電子企業(yè)的品管提出了嚴(yán)重的挑戰(zhàn)。為此,美國(guó)電子工業(yè)聯(lián)合會(huì)(IPC)和電子元件焊接工程協(xié)會(huì)(JEDEC)之間共同研究制定和發(fā)布了 IPC-M-109, 潮濕敏感性元件標(biāo)準(zhǔn)和指引手冊(cè),對(duì)電子產(chǎn)品的防潮除濕問(wèn)題提出和制定了標(biāo)準(zhǔn),并成為電子工業(yè)遵循的標(biāo)準(zhǔn)。在IPC-M-109中的IPC/JEDEC J-STD-033 潮濕/回流敏感性SMD的處理、包裝、裝運(yùn)和使用標(biāo)準(zhǔn)中,對(duì)在在潮濕空氣之中暴露過(guò)的IC,制定了將其放置在RH10%干燥箱中,以恢復(fù)IC壽命的規(guī)定。于是各電子企業(yè)紛紛計(jì)劃購(gòu)買能將箱內(nèi)濕度控制在RH10%以下的常溫自動(dòng)干燥箱(又稱、箱等名稱)。因此對(duì)這種產(chǎn)品的選型問(wèn)題,就提上了桌面。 由于這種常溫自動(dòng)干燥箱屬新興產(chǎn)品,一般用戶對(duì)其情況不了解,而易被產(chǎn)品的價(jià)格和外觀等表面顯現(xiàn)左右,或易受推銷者的誘導(dǎo),因此在選型上往往難以正確選取。事實(shí)上國(guó)內(nèi)各地已有不少用戶在購(gòu)買后經(jīng)使用感到產(chǎn)品不盡如人意.