由于增材制造的重要性日益提高，顆粒分析變得越來越重要，導致工業制造商對產品的質量要求更嚴格。除了產量大化外，制造商還需要確保其工藝始終可以提供具有適當尺寸和形態的顆粒。
在本篇文章中，將討論如何使用 Nebula™ 顆粒分散器實現顆粒均勻分散，并且可以使用飛納電鏡的顆粒統計分析測量系統分析顆粒。
分散粉末樣品的原因
為了確保顆粒分析的準確性，不僅需要分離單個顆粒，而且還要分離附著物。圖 1 顯示了將粉末樣品直接添加到碳導電膠上和使用 Nebula™ 顆粒分散器之間的區別。
圖1：將粉末樣品直接涂覆到碳導電膠（左）和使用 Nebula™ 顆粒分散器（右）之間的掃描電鏡圖比較。
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