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復納科學儀器（上海）有限公司

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突破掃描電鏡景深極限

閱讀：451 發布時間：2019-07-04

　　掃描電鏡作為一種基礎顯微成像工具，因具有超高的放大能力，從而被高校、科研院所、材料研發和質量分析部門廣泛用于研發、生產過程。

　　相比于光學放大器件，掃描電子顯微鏡使用電子束進行成像，放大、分辨能力比光學顯微鏡有非常大的提升。

圖1 金相樣品光學顯微鏡圖像 (左) 和掃描電鏡圖像 (右)

　　Phenom 飛納電鏡開發了*的超景深成像模式。在該模式下，掃描電鏡可以根據樣品景深進行全視野掃描，并自動計算視野所有位置上可以獲得清晰圖像的工作距離，隨后連續自動曝光，終得到理論景深無限制的掃描電鏡圖像。圖 6 展示了超景深模式開啟前和開啟后的圖像對比。

圖6 超景深模式開啟前后效果對比

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