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Evident OmniScan X4新品盛大發布 引領無損檢測技術新潮流

2024-11-04 09:13:37來源:化工儀器網關鍵詞:無損檢驗閱讀量:17200
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導讀:10月30日,Evident在中國國際質量控制與測試工業設備展覽會召開期間召開了新品發布會,推出了備受市場歡迎的OmniScan 系列的新一代產品——OmniScan X4探傷儀。

  【儀器網 科技成果】作為無損檢測設制造的領先企業儀景通光學科技(上海)有限公司(以下簡稱為“Evident”)始終以科技領域中尖端、創新的技術為基石,不斷提升產品性能、精度與可靠性,突破行業技術界限10月30日,Evident在中國國際質量控制與測試工業設備展覽會召開期間召開了新品發布會,推出了備受市場歡迎的OmniScan 系列的新一代產品——OmniScan X4探傷儀

 

 

 

  新一代的 OmniScan X4是一款極具創新性的產品,X4在上一代產品的基礎上,經歷五年的改進,無論是在硬件參數、軟件功能方面,還是客戶操作體驗、數據開放方面,都表現出了明顯的進步。這一突破性的成果吸引了大量的業界嘉賓到現場深度體驗與試用,并向Evident反饋使用體驗。
 
 

 

  Evident的多位領導和行業內的多位專家、學者親臨現場并參與了新品發布環節。出席發布會的有中國及亞太區銷售副總裁王飚先生、NDI(無損檢測)中國區銷售負責人潘偉先生、Marcom 中國區負責人華勇先生、Global產品經理Alexandre vincent B.Gregoire,以及多位來自無損檢測分會的專家代表和企業代表。
 

 

  Evident中國區副總裁王飚先生和多位嘉賓紛紛表達了對新產品的期待和祝愿,并共同參加了揭幕儀式,慶祝OmniScan X4系列探傷儀正式面世。隨后,NDT產品經理劉沛先生為現場的觀眾和嘉賓介紹了新產品的特質和創新點。
 

 
       數據采集速率提升:輕松應對更多檢測需求
 

  OmniScan X4系列探傷儀配備了更強大的處理器、更大的內存和經過優化的軟件,響應速度比前代型號明顯提高——普通操作幾乎可以立即做出反應,尤其大型數據集的處理速度,相較于上一代的X3,OmniScan X4數據采集速率大大提升。
 
  OmniScan X4系列探傷儀配備了目前最高級的超聲檢測技術,包括全聚焦成像(TFM)、相位相干成像(PCI)和平面波成像(PWI)。通過使用這些高級功能,OmniScan X4的用戶可以更加輕松地應對各種具有挑戰性的檢測應用。
 
  操作界面清晰簡明:輕松完成更多工藝設置
 
  OmniScan X4的軟件為客戶提供了清晰簡明的操作界面和易于調節的功能菜單。尤其是在“掃查計劃”向導菜單中,新增加了預先編輯的應用設置選項,這些預設置中按照應用類型預設了各種掃查任務可能需要的探頭、楔塊和掃查工裝。
 
  用戶在實際檢測時,只需按照對應的檢測需求調用相應的設置,并根據需要調整少量參數即可完成最終的工藝設置。利用預設置功能不僅可以大大縮短用戶設置儀器的時間,也可以幫助剛接觸OmniScan X4的新用戶更快熟悉儀器,并在更大程度上保持不同人員做同一操作時的檢測一致性。
 
  開源的數據格式:更快完成數據提取和調用
 
  Evident是目前首個在無損檢測領域使用開源數據格式的企業,OmniScan X4使用了新型的完全開源的NDE4.0數據格式保存檢測數據。這是一種基于Jason和HDF5架構編輯的數據格式,客戶對檢測數據中的原始信息進行提取和調用的速度是處理封閉格式數據的10倍。這種完全開源的NDE格式數據能夠幫助用戶大大降低工業檢測大數據智能平臺的整合難度。
 
  OmniScan X4憑借其便攜性與強大功能,助力設施損傷的準確識別與評估,提高設備的安全性和可靠性。這一產品的推出將滿足行業對無損檢測便捷化、高效化的需求,具有廣闊的市場前景和巨大的發展潛力。
 

 獲獎者合影

 
  為了推動無損檢測超聲檢驗技術的發展,加強同行之間的交流與合作,活動現場還舉辦了由Evident冠名,《無損檢測》主辦的“2024 Evident 杯超聲檢測技術優秀論文”頒獎活動,經過專家的認真評審,本次征文活動共有7篇文章獲得此次活動的一、二、三等獎和優秀獎。
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