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HAD-RLE-SA02 光纖光譜儀應(yīng)用綜合實驗儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 北京恒奧德科技有限公司
  • 品牌
  • 型號 HAD-RLE-SA02
  • 所在地 北京市
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2015/11/29 18:00:00
  • 訪問次數(shù) 226

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光譜儀式光譜檢測zui常用的設(shè)備。將光纖與CCD技術(shù)應(yīng)用于微型光譜儀,可以大大提高其穩(wěn)定性和分辨率,微型光纖光譜儀的便攜性和高性價比,使得光譜檢測從實驗室走向檢測現(xiàn)場,拓展了光譜儀的應(yīng)用范圍。愛萬提斯開發(fā)了一系列的光譜檢測實驗,適用于物理/化學(xué)相關(guān)專業(yè)本科生專業(yè)實驗應(yīng)用。

詳細(xì)信息 在線詢價

光纖光譜儀應(yīng)用綜合實驗儀 型號:HAD-RLE-SA02

一、實驗簡介

       光譜儀式光譜檢測zui常用的設(shè)備。將光纖與CCD技術(shù)應(yīng)用于微型光譜儀,可以大大提高其穩(wěn)定性和分辨率,微型光纖光譜儀的便攜性和高性價比,使得光譜檢測從實驗室走向檢測現(xiàn)場,拓展了光譜儀的應(yīng)用范圍。愛萬提斯開發(fā)了一系列的光譜檢測實驗,適用于物理/化學(xué)相關(guān)專業(yè)本科生專業(yè)實驗應(yīng)用。

二、實驗內(nèi)容

      1、利用反射光譜測定印刷品顏色;

      2、利用透射光譜測定濾光片透過率;

      3、利用等離子體光譜測定氣體成分;

      4、利用白光干涉測定薄膜厚度測量。

三、儀器配置與技術(shù)參數(shù)

      1、光纖光譜儀

            分辨率:2.4nm@350~1100nm;

            靈敏度:40photons./count@600nm; 探測器:CCD線陣2048個像素;

            信噪比:200:1;                 動態(tài)范圍:2000:1;

            A/D轉(zhuǎn)換卡:16位,2MHz;       積分時間:1.1ms~10min;

           接口:UISB2.0,480Mbps;        采樣速率:1.1ms/scan;

           外型尺寸:175mm×110mm×44mm; 重量:720g。

     2、標(biāo)準(zhǔn)光源:

           波長范圍360nm~2500nm,功率穩(wěn)定性±0.1%,色溫2850K。

     3、積分球:內(nèi)部直徑50mm,采樣口徑8mm。

     4、透射光譜測試組件:

          準(zhǔn)直鏡:Φ5mm,SMA905接口;

          耦合鏡:Φ5mm,SMA905接口;

          待測鏡片:T=0.2~50%,Φ25.4mm。

    5、薄膜測厚樣品組件:

          介質(zhì)膜,口徑Φ25.4mm。

    6、等離子體:惰性氣體放電輝光球。

    7、顏色測量樣品:印刷品及標(biāo)準(zhǔn)白板。

北京恒奧德科技有限公司  
電  話:/57116369/
傳  真:
手  機(jī):/
   :2820129828/1029191641/1575574360/1321298635
郵  箱:hadkj_2012
網(wǎng)  址:/netshow/ZT11690
        />地  址:北京北洼路90號院16號樓317室(北京市地質(zhì)工程勘察院內(nèi)) 

 

 


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