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SMA-80PF 芯片高低溫實驗箱

參考價 15600
訂貨量 ≥1
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芯片高低溫實驗箱
用于檢測材料在各種環境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天等制品檢測質量之用。

詳細信息 在線詢價

芯片高低溫實驗箱 

 

主要配置:

進口法國”泰康”牌全封閉式壓縮機,進口TT-5166觸摸屏控制器,控制系統和冷凍系統主要均采用意大利、丹麥、中國臺灣或日本品牌配置。更多參數請東莞市愛佩試驗設備有限公司咨詢,我司還有立式可程式恒溫恒濕試驗箱,大型恒溫恒濕試驗箱、標準恒溫恒濕試驗箱、非標恒溫恒濕試驗箱等設備出售

安全功能:

1.獨立限超高溫報警系統,超過限制溫度即自動中斷運行,并聲光報警提示操作者。保證實驗安全運行不發生意外。

2.壓縮機過熱、過流、過載保護,風機過熱保護,缺水保護等。

3.可連接打印機或485通訊接口,具有USB數據轉移接口(U盤),用電腦顯示,并打印溫濕度和時間,方便的數據處理(選配)

4.控制器可以隨時導出曲線,為試驗過程數據儲存與回放提供有力保證。

滿足試驗標準

 

GJB   150.3高溫試驗

GJB   150.4低溫試驗

IEC68-2-1   試驗A:寒冷

IEC68-2-2   試驗B:干熱

GB   11158《高溫試驗箱技術條件》

GB10586-1《濕熱試驗箱技術條件》

GB/T   2423.2《電工電子產品基本環境試驗規程試驗B:高溫試驗方法》

GB/T   2423.3《電工電子產品基本環境試驗規程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法》

等……

 

芯片高低溫實驗箱 

滿足試驗標準:

GB10589-2008《低溫試驗箱技術條件》
GB11158-2008《高溫試驗箱技術條件》
GB10592-2008《高低溫試驗箱技術條件》
GB2423.1-2008《電工電子產品基本試驗規程試驗A:低溫試驗方法》
GB2423.2-2008《電工電子產品基本試驗規程試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008《電工電子產品基本試驗規程試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005《電工電子產品基本環境試驗規程高溫低溫試驗導則》
GB2423.22-2008《電工電子產品基本試驗規程試驗N:溫度變化試驗方法》
GB/T5170.2-2008《電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法溫度試驗設備》
GB2423.3-2008試驗C《恒定濕熱試驗方法》;
GB2423.4-93試驗D《交變濕熱試驗方法》

 

 

 

安裝場地

 

地面平整,通風良好

設備周圍無強烈振動

設備周圍無強電磁場影響

設備周圍無易燃、易爆、腐蝕性物質和粉塵

設備周圍留有適當的使用及維護空間,如下圖所示:

A:不小于10cm

B:不小于60cm

C:不小于60cm

D:不小于160cm


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