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動態光散射納米粒度/Zeta電位分析儀SZ-100

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 路易企業有限公司
  • 品牌
  • 型號
  • 所在地
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2020/10/19 15:49:17
  • 訪問次數 101

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HORIBA SZ-100系列納米顆粒分析儀在描述小顆粒物理性質方面是靈活的分析工具。根據不同的配置和應用程序可以完成顆粒度的分析,zeta電位的檢測,分子量(Mw)以及第二維利系數(A2)的測定。

SZ-100的典型應用包括:納米顆粒,膠體,乳液以及亞微米懸浮液。



SZ-100還可以用于檢測蛋白質、聚合物及其他大分子的分子量和第二維利系數。用戶準備幾個已知濃度的溶液,然后使用系統的靜態光散射模式繪制Debye曲線,從而計算出Mw和A2



主要特點:



 



◆ 可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑、Zeta電位和分子量



◆ 超寬動態測定有效范圍:0.3nm~8000nm(光子相關法)



 Zeta電位測定范圍:-200~+200mV(電泳多普勒法)



◆ 分子量測定范圍:1×10 3~2×10 7 Da(Debye Plot法)



 從ppm到百分之幾十的超寬樣品濃度范圍,在原液狀態下取樣測定。



◆ Horiba*的微量電泳樣品池,可以測定僅100μl 的Zeta電位



 的雙光路系統設計(90°和173°雙檢測器)適用于更寬濃度范圍的樣品測量



◆ *的檢測池清潔程度測定,保證了結果的準確性。



◆ 操作簡單快捷,取樣后僅需按測定開始按鈕




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