主要功能
   非常便攜，適合于室內或野外使用
  非破壞性精密地測量葉片在400～950nm波長范圍內的反射率、透射率和吸收率
   掃描速度快，靈敏度高
   USB接口連接UMPC數據處理終端
   樣品類型，葉片或扁平的物體
測量參數
   可以定性、定量的研究葉片內各組分葉綠素a或b、蛋白質、糖、礦物質等含量及比例變化
   測量葉片的透射率、吸收率和反射率
   有29中計算參數，CNVDI、NVDI、ARVI等參數
應用領域
   葉片光譜分析儀CI-710功能強大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜；通過光譜直
觀分析有關葉片的組份。它廣泛的應用在植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病
理等方面研究。
主要技術參數
   尺寸：89.1 x 63.3 x 34.4 cm
   重量：290g
   存儲環境：-30°-70°
   操作環境：-10°-50°，0%-90%（非結露）
   葉片面積：10×20mm
   采樣直徑：7.6 mm
檢測器
   檢測器：TCD1304AP線性陣列探測器
   掃描波長范圍：400～950 nm
   像素：3648
   像素大小：8um×200um
   像素深度：100000
   信噪比：300:1
   模數轉換分別率：16位
   暗噪音：50
   線性修正：>99.8%
   敏感性：130光子（在400nm），60光子（在600nm）
分光計
   光學分辨率：0.3～10.0nm FWHM
   積分時間：3.8ms-10s
   動態量程：2×106（系統），1300:1（單次采集）
   雜散光：＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
測量
   供電：通過UMPC供電
   功率：2 瓦
   數據傳輸速率：5ms
   觸發：自動或手動
   操作系統：Windows7 & 8 通過USB
   配有CI-700LP葉夾
   測量方式：非破壞性測量葉片
   測量光譜：葉片透射、吸收和反射光譜
   樣品類型：葉片或扁平的物體
選購指南
   光譜探測器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數據終端、光譜分析軟件、說明書、便攜式儀器箱

CI-710軟件SpectracSnap測量界面

CI-710野外測量

產地：美國CID
參考文獻
原始數據來源：Google Scholar
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