3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便,能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗,本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統,從而得到高質量和高精度的數據。
光學顆粒物粒徑譜儀
型號:3330
3330型光學顆粒物粒徑譜儀簡單輕便,能夠對顆粒物濃度和粒徑譜分布進行快速和準確的測量。基于美國TSI40年氣溶膠儀器設計的經驗,本款產品使用120度光散射角收集散射光強度和精密的電子處理系統,從而得到高質量和高精度的數據。同時,TSI工廠嚴格的標定標準也確保儀器的精確性。3330不僅可以單獨使用,而且還可以放入TSI的外場環境箱中在野外使用。
應用
光學儀器由于其易于操作、測量速度快、結實耐用,而被廣泛應用于不同領域。一些主要的應用如下:
過濾測試(ASHRAE52.2)
室內空氣質量
工作場所監測
室外環境監測
工業測量
源排放監測和控制
特性和優點
0.5微米時粒徑分辨率小于5%
粒徑通道用戶可調
檢測粒徑范圍:0.3—10微米,多16通道
檢測濃度范圍:0-3000個/cm3
彩色觸摸屏,直觀的用戶界面
*ISO 21501-01/04要求
輸入折射率和密度可以同時顯示顆粒物數濃度和質量濃度
收集的采樣膜可進行稱重測量和化學分析
電池電量大可供20小時的操作
多可存儲30000個數據
記錄每個樣品的溫度和壓力
標簽:TSI粒徑譜儀,光學顆粒物粒徑譜儀3330,美國tsi風量罩,美國TSI風速儀,美國TSI粉塵儀,美國TSI激光粒子計數器,美國TSI風壓計,美國TSI流量計,美國TSI8530,美國TSI8532,美國TSI8533,美國TSI8534,美國TSI8380,美國TSI4140,美國TSI9565,美國TSI9535,美國TSI9545,美國TSI5825,美國TSI5815,美國TSI8380b,建研愛康專業銷售美國TSI全系列產品。
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