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Winner2008 (濕法)高性能激光粒度儀

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該產品采用雙光束多頻譜探測系統和側向光散射測試技術,大幅提高了儀器的測試精度和性能 ,測試范圍覆蓋毫米、微米、亞微米、納米全量程,是大量程濕法粒度儀。

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該產品采用雙光束多頻譜探測系統和側向光散射測試技術,大幅提高了儀器的測試精度和性能 ,測試范圍覆蓋毫米、微米、亞微米、納米全量程,是大量程濕法粒度儀。

產品優勢

1-*的光路設計

采用會聚光傅里葉變換技術,克服了透鏡孔徑對散射角的限制;采用雙譜面光路設計,測量范圍擴大至2000微米;自主研發的雙激光(高性能He-Ne激光器和藍光激光器)正交光路,使用半導體輔助激光器,測量側向散射范圍為0.0155-141度,將測量范圍進一步擴展。

2-配置全內置分散系統

配置大功率循環泵,對管路進行優化設計,提高整體控制協調性,有效防止大顆粒的沉淀。

3-無約束自由擬合技術

自主產權技術,不受任何函數限制,真實反應顆粒分布狀態。

 

主要適用于

固體粉末或乳液中顆粒、水泥、陶瓷原料、醫藥原料、乳液、精細化工、涂料、染料、顏料、填料、農藥、燃料、催化劑、感光材料、添加劑類、泥漿、磨料、潤滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、石墨、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、水煤漿及其他粉狀材料的粒度分析。


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