日本atago玉米無損糖度計
日本atago玉米無損糖度計
日本atago玉米無損糖度計
ATAGO（愛拓）水果無損糖度計——PAL-HIKARi 51 （玉米）
無需采摘果實！無需破壞果皮！
無需切取果肉！無需榨汁取樣！
糖度是決定水果新鮮度、成熟度、口感度的一項重要參數(shù)。
ATAGO（愛拓）水果無損糖度計——PAL-HIKARi系列，采用紅外原理，通過把光線從水果表面射向水果內部，根據(jù)反射到傳感器的時間來計算果實的糖度（Brix值）。
無損檢測非常適合水果種植全程糖度監(jiān)控，不破壞果實外觀，全程跟跟蹤監(jiān)測水果生長過程的糖度（Brix值）變化，對果品研發(fā)、果蔬種植、成熟度監(jiān)測、采摘期控制、存儲運輸、果蔬配送、售價分級等提供了檢測數(shù)據(jù)支持與分析，便攜式設計，使用環(huán)境友好，測量快速，是果園種植戶、水果檢測機構、水果連鎖經(jīng)銷商、水果品控部門的*檢測儀器之一。
1.無需對水果切肉榨汁，僅需通過探測器緊貼水果表面，即可測量糖度。
2.可實現(xiàn)對水果進行個體探測糖度，幫助果農、果商實現(xiàn)種值改良、采摘檢測，銷售分級。
3.快速測量，結果3秒即現(xiàn)，數(shù)字顯示，讀數(shù)方便。
4.可連續(xù)多次測量求平均值。
5.設計小巧，便于攜帶，具備自動溫度補償功能，隨時隨地應用于各種場合。
| 無損檢測水果糖度測量水果的糖度（Birx值/白利度），無需切取果肉，無需榨汁取樣，只需通過紅外探測器緊貼水果表面即可，免去復雜的前處理步驟，免去清洗，快速簡易。 |
| 全面測量無損檢測每一個果實的糖度，不破壞果實，保持果體原貌，不影響銷售。 |
| 精巧便攜PAL-HIKARi系列結構緊湊，側鍵設計，可單手操作，方便測量樹上果實，普通電池供電，隨時隨地可測量。 |
| 完美貼合果實PAL-HIKARi 系列*專門設計的海綿墊圈，安全無毒，能更好地緊密貼合各種果形的表面，避免了由于外界光線或位置因素等干擾而造成的測量誤差。 |
【產(chǎn)品參數(shù)】
| 型號 | PAL-HIKARi 51（玉米） |
| 適用水果 | 玉米 |
| 貨號 | 8551 |
| 測量范圍 | Brix 9.0 ～ 20.0% |
| 測量精度 | Brix ±2% *視測量品種及測量環(huán)境而略有不同。 |
| 分辨率 | Brix 0.1% |
| 自動溫度補償范圍 | 20.0 ～ 35.0°C *先讓玉米適應環(huán)境溫度片刻 |
| 防護等級 | IP64 |
| 電源 | AAA 堿性電池×2 |
| 尺寸和重量 | 6.1×4.4×11.5cm，120g（僅主機） |
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