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熒光分布成像系統(tǒng) EEM View

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熒光分布成像系統(tǒng)采用全新設(shè)計，可以測定并觀察樣品的光譜數(shù)據(jù)。利用AI光譜圖像處理算法*1，不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像，還可以獲得不同區(qū)域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。*1計算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果。*EEM是日立*科學(xué)公司在中國和日本的注冊商標

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熒光分布成像系統(tǒng) EEM® View

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熒光分布成像系統(tǒng)采用全新設(shè)計，可以測定并觀察樣品的光譜數(shù)據(jù)。利用AI光譜圖像處理算法*1，不但可以分別顯示樣品的熒光圖像和反射圖像，還可以獲得不同區(qū)域的光譜圖像*1(熒光光譜、反射光譜)。

*1
計算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果。
*
“EEM”是日立*科學(xué)公司在中國和日本的注冊商標

  • 特點

  • 應(yīng)用數(shù)據(jù)

  • 指標

特點

什么是EEM View

新技術(shù)可同時獲得熒光 · 反射圖像和光譜

  • 測定樣品的光譜數(shù)據(jù)（反射光譜、熒光光譜）
  • 在不同光源條件（白光和單色光）下拍攝樣品
    ?。▍^(qū)域:Φ20 mm、波長范圍:380~700 nm）
  • 采用AI光譜圖像處理算法＊1，能夠分別顯示樣品熒光圖像和反射圖像
  • 根據(jù)圖像可獲得不同區(qū)域的光譜信息＊1（熒光光譜、反射光譜）
*1
計算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果

EEM View Analysis 界面（樣品：LED電路板）

熒光分布成像系統(tǒng)概要

均勻的光源系統(tǒng)

同時獲取樣品的熒光 · 反射圖像和光譜！

  • 積分球漫反射使光源均勻化
  • 利用積分球收集的光均勻照射樣品
  • 采用熒光檢測器和CMOS相機雙檢測模式

新型熒光分布成像系統(tǒng)可安裝到F-7100熒光分光光度計的樣品倉內(nèi)。入射光經(jīng)過積分球的漫反射后均勻照射到樣品，利用F-7100標配的熒光檢測器可以獲得樣品熒光光譜，結(jié)合積分球下方的CMOS相機可獲得樣品圖像，并利用*的AI光譜圖像處理算法，可以同時得到反射和熒光圖像。

樣品安裝簡單，適用于各種樣品測試！

樣品只需擺放到積分球上，安裝十分簡單！

  • 板狀樣品：通過石英窗安裝樣品。
  • 粉末樣品：將粉末填充至樣品平整夾具中，置于粉末樣品池支架，或使用選配件固體樣品支架中的粉末樣品池安裝樣品。

  • 校正時，需放置好熒光標準樣品。
  • 請使用選配的標準白板(100 %)和空白樣品(0 %)進行校正。此校正工具可被應(yīng)用于熒光強度、反射率校正， 以及圖像不同區(qū)域的亮度分布校正。

 

應(yīng)用數(shù)據(jù)

【應(yīng)用實例】微結(jié)構(gòu)材料的熒光特性和結(jié)構(gòu)確認

為了提高可視性，我們測量了具有精細結(jié)構(gòu)的熒光反射片。

同時獲得光譜數(shù)據(jù)和樣品圖像

對樣品照射360 nm～700 nm范圍內(nèi)的單色光以及白光。此時，可獲得不同光源條件下的圖像，同時通過熒光檢測器可獲得熒光光譜。測定完成后，可以查看樣品的三維熒光光譜（激發(fā)波長、發(fā)射波長、熒光強度）。在分析軟件中，可對圖像進行放大，從而顯示不同區(qū)域的熒光 · 反射光譜。因此能夠確認光學(xué)性能分布不均勻的樣品的反射和熒光光譜。

計算、顯示不同區(qū)域的光譜（熒光 · 反射）

顯示分離圖像（熒光 · 反射）

對拍攝到的圖像進行反射光成分圖像與熒光成分圖像分離

利用AI光譜圖像處理算法，將拍攝的圖像分離為反射光成分和熒光成分圖像。結(jié)果，反射光成分圖像顯示為橙色，熒光成分圖像顯示為綠色。二者分別與反射光譜與熒光光譜的單色光一致。由此可知，此樣品是橙色反射光和綠色熒光的混合，所以在白光下呈黃色。此外，通過反射圖像和熒光圖像可看出樣品不同區(qū)域的光學(xué)特性（圖像圖案）差異。放大圖像后可以看到，反射板的微細結(jié)構(gòu)存在規(guī)律的間隔，其間隔寬度是200 μm。

指標

主要功能

主要功能
項目內(nèi)容
EEM View模式
（測定模式）		三維熒光光譜的測定
單色光圖像
白色光圖像
預(yù)覽圖像
數(shù)據(jù)處理顯示縮略圖
顯示三維熒光光譜（等高線，漸變圖）
顯示激發(fā)/發(fā)射光譜
顯示放大圖像
圖像分區(qū)（1×1、2×2、3×3、4×4、5×5）
計算、顯示不同區(qū)域光譜（熒光、反射）*1
顯示分離圖像（熒光、反射）*1
*1
計算系統(tǒng)是國立信息學(xué)研究所的IMARI SATO教授和鄭銀強副教授共同研究的成果

規(guī)格

規(guī)格
項目內(nèi)容
照射波長

360 nm ～700 nm

相機彩色（RGB）CMOS傳感器
接口

USB3.0

有效像素數(shù)1920 × 1200（H×V）
可拍攝波長范圍

380 nm ～700 nm

*
此配件的主要規(guī)格以熒光分光光度計主機為設(shè)計依據(jù)。

配置示例

配置示例
名稱P/N（序列號）
F-7100熒光分光光度計

5J1-0042

EEM View配件

5J0-0570

R928F光電倍增管

650-1246

副標準光源

5J0-0136

應(yīng)用

介紹分光熒光光度計（FL）的測量實例。

熒光分光光度計之光譜精確測定

介紹有關(guān)補正裝置間機差的方法和去除散亂光的方法。

固體樣品熒光光譜

介紹使用固體樣本保持器（可選）等離子體顯示器的熒光光譜測量實例。

科學(xué)環(huán)

介紹以科技領(lǐng)域者為目標的日立*科學(xué)集團的象征標志。

關(guān)聯(lián)產(chǎn)品

  • 熒光分光光度計F-7100 熒光分光光度計F-7100
  • 熒光分光光度計 F-7000 熒光分光光度計 F-7000


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