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TecSense TecScan頂空分析儀

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TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀是奧地利兩位科學家發(fā)明的非接觸式頂空分析儀,無損殘氧儀,專門應用在氣調(diào)包裝和制藥殘氧檢測行業(yè),TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀是MAP食品包裝廠和如大輸液,安剖瓶,***,麻醉劑等藥品行業(yè)的殘氧檢測應用。

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TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀


TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀是奧地利兩位科學家發(fā)明的非接觸式頂空分析儀,無損殘氧儀,專門應用在氣調(diào)包裝和制藥殘氧檢測行業(yè),TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀是MAP食品包裝廠和如大輸液,安剖瓶,***,麻醉劑等藥品行業(yè)的殘氧檢測應用。產(chǎn)品:SADP露點儀|在線露點儀肖氏露點傳感器|肖氏露點儀|頂空分析儀|藥品殘氧儀|壓縮空氣露點儀|Mocon透氧儀|膜康透濕儀|代表處|分公司|子公司|辦事處|總代理CMC微量水分析儀總代理


  • 光化學方法的頂空分析儀不僅可以測量氣體中的氧氣含量,還以測量液體中的氧氣含量。
  • 傳感器通過光電化學點的透明包裝
  • 光電化學點可作為粘合劑或打印點
  • 無需氣體抽出– 對于小氣量和液體非常適合
  • 光電化學點工廠校準
  • 自檢程序
  • 測試時間 < 3s
  • TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀

  • 性能
    氣體
    液體
    測試范圍 0.05 – 25% Vol.% 0 – 10 (20)mg/L
    準確度: ± 0.02% oder < ±2% from value ± 0.05mg/l oder < ±2% from value
    分辨率: 0.02% <0.02mg/l
    響應時間: < 1 s Abh?ngig von der Schutzklasse
    typisch 3s – 30s
    校準: 20° / 25° / 37°
    (additional temperatures optional)


    TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀應用:

    制藥與生物技術(shù)
    ?食品工業(yè)/地圖包裝
    **學.(病原體)微生物生長的檢測.生物化學和分子生物學的研究與開發(fā)
    絕緣玻璃工業(yè)

    更多TecScan頂空分析儀 殘氧儀 光化學方法殘氧儀請致電英肖儀器英國Ray-Ran儀器總代理|美國TME撿漏儀泄漏儀總代理|德國CMC CUHNKE坤科儀器總代理|荷蘭Eagle Vision總代理|美國UTS試驗機總代理|荷蘭C&W試驗箱總代理|TQC SHEEN儀器總代理|瑞典Fibro動態(tài)接觸角測試儀總代理



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