LPN-GXPII 干涉法線脹系數測定儀
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- 公司名稱 天津津梁儀器設備有限公司
- 品牌
- 型號 LPN-GXPII
- 所在地 天津市
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2022/2/23 18:22:46
- 訪問次數 98
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實驗內容: (1)利用光的干涉測定線脹系數;(2) 邁克爾遜干涉儀的調整與使用雙導軌、雙動鏡、平臺式半導體激光器:波長625nm
溫控范圍:50--120℃,任意選擇,數顯
恒溫穩定度:±0.1℃
測溫范圍:-50--125℃, 三位半數顯,精度:±0.1℃
實驗內容: (1)利用光的干涉測定線脹系數;(2) 邁克爾遜干涉儀的調整與使用雙導軌、雙動鏡、平臺式半導體激光器:波長625nm
溫控范圍:50--120℃,任意選擇,數顯
恒溫穩定度:±0.1℃
測溫范圍:-50--125℃, 三位半數顯,精度:±0.1℃實驗內容: (1)利用光的干涉測定線脹系數;(2) 邁克爾遜干涉儀的調整與使用雙導軌、雙動鏡、平臺式半導體激光器:波長625nm
溫控范圍:50--120℃,任意選擇,數顯
恒溫穩定度:±0.1℃
測溫范圍:-50--125℃, 三位半數顯,精度:±0.1℃
實驗內容: (1)利用光的干涉測定線脹系數;(2) 邁克爾遜干涉儀的調整與使用雙導軌、雙動鏡、平臺式半導體激光器:波長625nm
溫控范圍:50--120℃,任意選擇,數顯
恒溫穩定度:±0.1℃
測溫范圍:-50--125℃, 三位半數顯,精度:±0.1℃
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