熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-425-345 Kapton膜
適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：
日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valle

、Premier 樣品膜特點：

  有卷狀和片狀，多種規格、尺寸、數量可供選擇；

  柔韌性強、方便、耐用；

  X-ray射線穿透性，適合各類XRF光譜儀；

 抗化學腐蝕性能，不溶于有機溶劑，不污染待測樣品；

  （幾乎不含）痕量雜質，特別適合于輕質元素的*檢測。

、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：

日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。

  、XRF樣品膜目錄：

美國Premier X-ray樣品膜種類：

（1）、Hostaphan膜；

（2）、Kapton膜：聚酰亞胺膜，卡普頓膜；

（3）、Mylar膜：聚酯薄膜，邁拉膜，麥拉膜；

（4）、Polypropylene膜：聚丙烯膜。

CAT. NO 薄膜材料       厚度       長度       數量       描述熒光光譜儀XRF樣品膜 TF-425-345 Kapton膜