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返回產品中心>2016年推出的微區X射線熒光分析儀Atlas,作為一款能量色散型X射線熒光分析儀(EDXRF),Atlas的空間分辨率、操作自動化,束斑尺寸等諸多性能指標表現優異,目前Atlas有兩個型號M和X(尺
電路板的X射線面分布圖,(Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn)
Atlas-M型號技術參數
樣品類型 | 固、液、顆粒、粉末 |
測試介質 | 空氣、真空、氦氣 |
激發源 | 12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA |
激發源參數: 靶材 束班尺寸 濾片 | 多毛細管或準直器 銠(其他可選) 5μm-1000μm連續可調 8片 |
探測器 分辨率 活區面積 | SDD 135-145ev 50-150mm2 |
樣品臺 | X、Y、Z三軸可動 320X320mm可移動范圍 載重10Kg |
Mapping尺寸 樣品移動速度 | 220X200mm 300mm/s |
元素分析范圍 | Na-U |
特點:
1、 束斑尺寸最小可達5μm;
2、 大樣品臺行程(320×320×120mm),移動速度可達300mm/s;
3、 多達8片的濾波片選擇;
應用領域:
1、 地礦文博;
2、 電子器件;
3、 刑偵醫學;
4、 醫藥檢測;
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