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微區X射線熒光分析儀Atlas

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2016年推出的微區X射線熒光分析儀Atlas,作為一款能量色散型X射線熒光分析儀(EDXRF),Atlas的空間分辨率、操作自動化,束斑尺寸等諸多性能指標表現優異,目前Atlas有兩個型號M和X(尺

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電路板的X射線面分布圖,(Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn)

 


介紹:
  IXRF專注于精確地微區痕元素分析產品,包括齊全的能譜儀(EDS)和X射線熒光(XRF)。
     
  在硬件方面,作為一款臺式XRF,Atlas-M型號的體積為890×560×560mm,具有較大的樣品倉體積,相對應的是較大的樣品臺行程以及最重的載重量,而與此同時,卻可以將樣品臺的移動速度提升到300mm/s,移動精度≤1μm。
      其采用的毛細管聚焦技術,可將束斑縮至5μm,另外也可通過選用準直器等配件,使束斑在5μm—1000μm之間的范圍內可調;其多大8片的濾波片選擇,可滿足更多的分析需求。
  在軟件方面,作為曾因其軟件研發能力而獲得英國政府頒發的千禧年大獎的公司,IXRF在Atlas操作軟件的開發上沿襲了其一貫的專業性及開放性。
在數據的獲取及處理上,可實現數據的一鍵采集,或自動或手動的鑒別樣品成分,并利用FP建模或quantitative  match等功能實現樣品成分的定量分析;在圖像處理方面,不僅可對獲取的圖像進行拼接,還可實現相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態學上的測量及成分分析等功能;在面分布及線掃描方面,可同時獲得多達35種元素的信息,并且實現單像素的譜圖數據采集,并可保存下來,后續仍可繼續對此數據進行點線面等處理。
  在應用方面,可在各種環境,如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類的樣品,無論是固體、液體、顆粒、粉末,樣品大小,拋光與否,表面粗糙與否皆可輕松勝任,且實現無損分析。
      鑒于Atlas的突出的性能特點,其被廣泛的應用到地礦文博、電子器件、環境監測、刑偵醫學、醫藥檢測等方面。

Atlas-M型號技術參數

樣品類型

、液、顆粒、粉末

測試介質

空氣、真空氦氣

激發源

12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA

激發源參數:

靶材

束班尺寸

濾片

多毛細管或準直器

銠(其他可選

5μm-1000μm連續可調

8片

探測器

分辨率

活區面積

SDD

135-145ev

50-150mm2

樣品臺

X、Y、Z三軸

320X320mm可移動范圍

載重10Kg


Mapping尺寸

樣品移動速度


220X200mm

300mm/s

元素分析范圍

Na-U

特點:

1、 束斑尺寸最小可達5μm;

2、 大樣品臺行程(320×320×120mm),移動速度可達300mm/s;

3、 多達8片的濾波片選擇;

應用領域:

1、 地礦文博;

2、 電子器件;

3、 刑偵醫學;

4、 醫藥檢測;

5、 環境監測。


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