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功率循環可靠性測試機器

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功率循環可靠性測試設備TL-PC12000W3用在中低頻二三極管、MOS管、IGBT管等半導體大功率器件/功率模塊進行測試

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功率循環可靠性測試設備TL-PC12000W3用在中低頻二三極管、MOS管、IGBT管等半導體大功率器件/功率模塊進行測試

1.試驗功能:

直流Power Cycling(PC)、附加OPL

1.1PC描述:

使?TJ≥100℃(?TJ =TJ【MAX】-TJ【MIN】)到循環次數結束,基于目的不同分兩種方式:

① ?TJ Power  Cycling(秒級/fast)

② ?TC Power  Cycling(分鐘級)&(?TC=TC【MAX】-TC【MIN】)

每種方式各有4種循環模式:

① 恒流IH循環模式(?TJ ↑)

② 恒定PD循環方式(?TJ ↑)

③ 恒定?TJ循環模式(TON←、TOFF→)

④ 恒定?TC循環模式(TON←、TOFF→)

1.2OPL描述:

※  恒定PD使TJ=TJ【MAX】,并保持恒定,到時間結束,以下描述忽略此項。

2. 參數檢測:

溫度參數檢測:

① TJ檢測:K系數法檢測(VF - TJ曲線法)

② TC檢測:傳感器實時檢測試驗器件殼溫

③ TS檢測:傳感器實時檢測試驗器件熱沉溫度

電參數檢測:

① VGE檢測:實時檢測試驗器件門級電壓

② VCE檢測:實時檢測試驗器件兩端電壓

③ ICE檢測:實時檢測試驗器件兩端電流

3. 數據處理:

基于參數檢測,分別實時得出試驗參數:

① TJ、?TJ

② VF、VON

③ Rth【J-C】、Rth【J-S】

4. 失效控制:

對數據處理后得出TJ、?TJ 、VF、VON、Rth【J-C】、Rth【J-S】等試驗結果,并作為樣品失效的觸發條件對試驗進行必要的控制。

5. 試驗依據:

參照JESD51、IEC60747、AQG324、AEC-Q101、MIL-STD-750等。

6. 試驗效率:

3個并行獨立試驗工位

7.產品配置:

1. 系統主機部分:

1.1. 試驗腔:

型號規格:

TL-PC03B

功能特點:

可放置3個水冷板熱沉,3個工位的試驗驅動、偏壓、檢測、冷水散熱端口引入試驗腔。

整個試驗腔體防凝露處理,低溫不凝露。

具有煙霧報警和安全處理裝置。

技術參數:

內腔尺寸:W1200×H500×D600(mm)

1.2. 熱沉:

型號規格:

PC15KW

功能特點:

水冷板,水流速根據降溫要求自適應調節;

紫銅材質;防凝露處理;氣動連接器件

技術參數:

尺寸尺寸:W300×H200×D400(mm);溫度范圍:15℃~150℃

1.3. 試驗電源:

型號規格:

XDC20V600A

功能特點:

器件加熱功率電源。

程控電源,可手動調節。

各試驗電源之間無關聯性,獨立運行。

技術參數:

尺寸規格:19寸6U電源

控制方式:程控

電壓輸出范圍:DC0~20.0V可設置

電流輸出范圍:0~600.0A

輸出紋波:≤60mV

可靠性:持續滿載運行時間>1000小時

安全保護:過熱、過壓、過流主動保護

1.4. 驅動檢測板:

型號規格:

PC15KW

功能特點:

驅動檢測1個工位的各項試驗參數

驅動檢測板之間無關聯性,獨立運行。

技術參數:

加熱功率:

IH驅動(總):0~600A,可并聯使用,擴展1800A

VH驅動:0~20.0V

VG驅動:0V~+20.00V,0V~-15.00V

檢測驅動:1工位

IM驅動:5~1000mA

IH檢測:0~1800A

UH檢測:0~24.00V

VF檢測:0~10000mV(**值)

TJ檢測:室溫~+200.0℃

測試延時:≤100us

測試周期:≤200us

1.5. PC軟件系統:

型號規格:

XLW-PC.SYS2.0

功能特點:

集成硬件、電腦界面完成試驗設置、控制、參數顯示、試驗數處理、曲線繪制等。

工業電腦

數量1套,23寸顯示屏、I5處理器、1T硬盤、Win7操作系統,強制冷卻散熱系統,可長期持續穩定運行>1000小時。

技術參數:

主界面:12通道試驗參數、試驗數據、自動摸底、試驗控制等集中展示和匯總。

器件庫:器件新建、保存、刪除功能。響應時間<1.5秒。

試驗控制:試驗【開始】、【暫停】、【繼續】、【停止】,集成于主界面;控制動作執行時間<1秒。

曲線查看:【實時曲線】和【試驗開始至當前時刻曲線】;采集時間*小時間間隔1秒。

數據導出查詢:一鍵導出試驗數據。容量取決于硬盤容量。

導出Excel:試驗參數和數據集成一體,導出時間<15秒。

2. K系數測試儀:

型號規格:

K150T1

功能特點:

1立方英尺無風高溫箱

恒溫點讀取溫度以樣品表面溫度為準

恒溫點可設置多個,一鍵自動完成K系數測試

技術參數:

工位數:1工位。

IM:5mA~10000mA。

VF測試:1個,0~10000mV,開爾文測試法。

TJ檢測:實時監測,測試延時≤100us、測試周期≤200us。



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