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偏光熔點測定儀XPR-80

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一、用途XPR-80系列偏光熔點測定儀是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器

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一、用途

XPR-80系列偏光熔點測定儀是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器。它在醫學上有廣泛的用途,如觀察齒、骨、頭發、及活細胞等的結晶內含物、神經纖維、動物肌肉、植物纖維等的結構細節,分析變性過程。也可以觀察無機化學中各種鹽類的結晶狀況在自然光看不到的精細結構。

二、技術參數

類別

技術參數

放大倍數

40×-1000×

觀察頭

三目頭,30°傾斜

目鏡

大視野WF10×,視場直徑Φ18mm

物鏡

放大倍數

平場消色差物鏡4×

平場消色差物鏡10×

平場消色差物鏡40×

平場消色差物鏡100×(油)

轉換器

內向式滾珠內定位四孔轉換器

載物臺

旋轉式載物臺(直徑:Φ120mm)

調焦機構

粗微動同軸調焦, 微動格值:2μm

聚光鏡

NA.1.25 阿貝聚光鏡,可上下升降

濾色片

藍濾色片、磨砂玻璃

光源

6V 20W 鹵素燈,亮度可調

三、電腦型系統組成:

1.簡易偏光顯微鏡    2.適配鏡    3.300W像素攝像器     4.圖像處理驅動軟件

5.數據線            6.300°熱臺   7計算機(自配)

四、加熱臺主要參數(具體參考熱臺資料)

工作溫度

室溫至300℃

起始溫度設定速率

50℃300℃不大于12min;300℃50℃不大于15min

儀器溫度最小讀數

0.1℃

加熱臺溫度控制準確度

室溫-200℃:±0.5℃;200-320℃1℃

起始溫度設定準確度

±1℃

線性升降溫速率(℃/min

0.2;0.51;1.5;2;3;4;5(共八檔)

線性升溫速率偏差

±10%

降溫速率控制

自帶微小風扇;通過設置預置溫度來減小降溫速率

樣品移動

樣品可以手動通過載玻片小范圍移動,便于觀察

加熱體方式

上面板與下面板同時加熱(樣本放在兩面板中間)

溫度記錄方式

可記錄初熔,終熔溫度

溫度超過100℃時,40X的物鏡工作距離太近,容易損壞鏡頭,請用長工作距離的物鏡。


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