該儀器用于測試薄膜材料熱物性參數。薄膜物理指出當物體很薄時，同樣材料薄膜狀態的物性與容積狀態的物性不一定相同，因此對薄膜物性的測量必須在薄膜狀態下進行。根據物體表面溫度按余弦（或正弦）規律變化時的瞬態實驗模型。該儀器采用溫度波法來測試薄膜材料的熱物性參數，由于薄膜是有限厚的一維模型。在這一狀態下，當溫度振蕩頻率達到一定值后，利用樣品上、下表面溫度的相位差計算導溫系數或導熱系數。儀器專用于研究薄膜材料熱物性特性。