Talos F200X S/TEM 融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能、行業的能譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分面分析的三維化學表征功能。Thermo Scientific Velox TM S/TEM 控制軟件通過智能掃描引擎、基于多個 STEM 探測器的多通道合并技術以及差分相位襯度 (DPC) 成像技術，顯著改善了 S/TEM 成像質量，可以更好地分析電磁結構，并實行快速、準確的 EDS 數據處理和定量分析。
X-FEG 高亮度電子槍可以在提供高達標準肖特基場發射電子槍五倍亮度的同時保持較小的會聚角。用戶可以獲取高信噪比以及的 STEM、EDS 圖像分辨率和更多高分辨 TEM 應用。X-FEG 高亮度電子槍所具有的高穩定性及使用壽命很長等特點，使其具有更高的成像效率。

FEI Talos F200X

該儀器廣泛用于高分子材料、陶瓷、納米材料、生物學、醫學、化學、物理學、地質學、金屬、半導體材料等領域的科學研究。