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電子探針顯微鏡(EPMA)

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設備介紹日本電子JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環境

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設備介紹

日本電子 JXA-8230電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器,組合使用WDS和EDS,能提供無縫、舒適的分析環境。日本電子新開發出的EPMA (電子探針)秉承近半個世紀的EPMA的發展歷史,JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析,這是JEOL長年來對高可靠性硬件不斷改良的結果。JXA-8230電子探針是能滿足多種需求的強力分析工具之一。

儀器型號

日本電子 JXA-8230

技術參數

  • 檢測元素范圍(Be)*1 /B~U, EDS:B~U
  • X射線檢測范圍WDS檢測的波長范圍0.087~9.3nm
  • EDS EDS檢測的能量范圍20keV
  • 加速電壓0~30kV
  • 束流電流范圍10-12 ~ 10-5 A
  • 束流電流穩定度5%/h, ±0.3%/12h(W)
  • 二次電子分辨率6nm(W), 5nm(LaB6)*2(W.D. 11mm, 30kV)
  • 掃描倍率×40 ~ ×300,000(W. D. 11mm)

案例展示

    應用范圍

    應用范圍:1.金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態成分鑒定。 2.金銀飾品、寶石首飾的鑒別,考古和文物鑒定,以及刑偵鑒定等領域。


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