機型特點：高強度脈沖氙燈雙光路光譜分析技術兼容包含鏡面反射測量和去除鏡面反射測量超大屏幕顯示屏，測量、設置更方便配套色彩品管軟件兼容反射測量和透射測量可調節的紫外光源提供四種測量口徑，口徑達25.4mm技術優勢：1.雙光路光譜分析技術:能同時獲取測量樣品和機內環境參考兩種數據，確保儀器測量的準確性和長期穩定性
機型特點：
高強度脈沖氙燈
雙光路光譜分析技術
兼容包含鏡面反射測量和去除鏡面反射測量
超大屏幕顯示屏，測量、設置更方便
配套色彩品管軟件
兼容反射測量和透射測量
可調節的紫外光源
提供四種測量口徑，口徑達25.4mm
技術優勢：
1.雙光路光譜分析技術:能同時獲取測量樣品和機內環境參考兩種數據，確保儀器測量的準確性和長期穩定性。
2.采用D/8照明觀測條件，兼容SCI/SCE測量
采用國際照明委員會推薦的D/8照明觀測條件，滿足各個行業測量需求；能進行含鏡面反射（SCI）和除鏡面反射（SCE）測量，更充
分地洞察顏 色數據變化。
3.照明光源為脈沖氙燈
采用脈沖氙燈作為照明光源，紫外和可見光全光譜覆蓋，能精確測量出深色樣品的顏色讀數，并消除所有周圍光線的影響，測量無需預
熱。
4.可調節紫外光源:可按照任意比例調節照明光源中的紫外成份。
5.可單機操作，超大屏幕顯示
不需要連接電腦即可完成測量，大屏顯示器能直接觀察測量結果、方便地設置儀器狀態。可配套使用色彩品管軟件或配色軟件
(ColorMatch)。
6. 4種測試口徑
簡單方便地調整測試口徑大小，測量口徑可達25.4mm，滿足各種尺寸樣品的測量需求。CS-820不僅能測量不透明樣品的顏色
數據，還可以方便測量透明、半透明樣品的透過率和“濁度”。
7.的校準白板設計設計:方便準確的將校準白板固定于測試口上，保證了白校準的準確性，為高精度測量提供保障。
8.靈活的測試夾具:可將不同厚度，不同尺寸的樣品緊密的固定在測試口上，防止雜散光進入影響測量結果的準確性。
滿足標準：
WI(ASTM E313-00,ASTM E313-73，CIE/ISO,AATCC,Hunter,Taube,Berger Stensby)，
YI(ASTM D1925，ASTM E313-00,ASTM E313-73),Tint(ASTM E313-00),
技術參數：
重復精度 | 0.015 |
值 | 0.03 |
臺間差 | E*ab 0.2以內（BCRA系列Ⅱ 12塊色板測量平均值） |
光源 | 脈沖氙燈 |
光譜范圍 | 360nm–740nm |
波長間隔 | 10nm |
帶通濾波器 | 10nm |
光度測定范圍 | 0%-200%反射率 |
光度測定分辨率 | 0.0001 |
反射測量孔徑 | 大孔徑(LAV)：2.54厘米 |
中孔徑(MAV)：1.5厘米 | |
小孔徑(SAV)：0.75厘米x1.0厘米 | |
顏色空間 | CIE Lab, LCh, CIE_Luv,XYZ,Yxy,反射率, Hunterlab, MunsellMI,CMYK, |
ΔE*ab, ΔE*CH, ΔE*uv, ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1),ΔE*94,ΔE*00，Eab(Hunter)，555， | |
同色異譜指數Milm，粘色牢度，變色牢度，ISO亮度， | |
A密度，T密度,E密度，M密度 | |
色差公式 | ΔE*ab,ΔE*CH,ΔE*uv,ΔE*cmc(2:1),ΔE*cmc(1:1), |
ΔE*94,ΔE*00,ΔEab(Hunter),555,色調分類 | |
測量時間 | <> |
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