JEM-2100F 透射電子顯微鏡是一款*的透射電子顯微鏡，主要特點是可以快速地獲得超高分辨率圖像。JEM 2100F是新一代透射電子顯微鏡，使原子尺度的結構分析更簡便，在生物學、醫學和材料學的研究，以及半導體和制藥工業中很有用。

JEM-2100F 透射電子顯微鏡

       JEM-2100F 透射電子顯微鏡是一款*的透射電子顯微鏡，主要特點是可以快速地獲得超高分辨率圖像。JEM 2100F是新一代透射電子顯微鏡，使原子尺度的結構分析更簡便，在生物學、醫學和材料學的研究，以及半導體和制藥工業中很有用。

      JEM-2100F 透射電子顯微鏡的束斑尺寸在0.5nm以下，在同類200kV透射電子顯微鏡中，它的分析功能zui強、獲得的圖像質量zui高。型的側插式測角樣品臺，便于樣品的傾斜、旋轉、加熱、冷卻和多點程序設定，且機械飄移極小。JEM-2100F可以連接STEM, MDS, EDS, EELS, 和 CCD相機等許多附件。