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當前位置:儀器網 > 產品中心 > 光學儀器及設備>電子顯微鏡>透射電子顯微鏡(透射電鏡、TEM)>Delong LVEM5臺式透射電子顯微鏡
低溫強磁場拉曼顯微鏡
高亮度液態靶X射線源
世界無液氦低溫STM/qP
UHVPAN式低溫掃描探針
掃描探針顯微鏡控制器
高速高分辨率拉曼成像
世界*的臺式透射電鏡,兼具掃描電鏡(SEM)功能,體積為傳統電鏡1/10,價格1/5
LVEM5臺式透射電子顯微鏡
• 世界*的小型臺式透射電子顯微鏡(TEM)
• 世界*的多用途臺式電子顯微鏡
• 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)、掃描電鏡(SEM)、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式
• 分辨率:2nm(TEM);3nm(SEM)
• Schottky場發射電子槍:高亮度、高對比度
• 觀察生物樣品無需染色
臺式設計:體積小巧,靈活性高,價格低
Schottky場發射電子槍:高亮度/高對比度
電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數。LVEM5采用特殊設計的倒置肖特基(Schottky)場發射電子槍,提供高亮度高相干的電子束。電子槍使用壽命可達2000小時以上。
傳統TEM多采用100kV以上電子束加速電壓,高能電子束不能區分輕材料中相近的密度和原子序數,對于輕元素樣品(C、N、O樣品,生物樣品)難以獲得好的對比度,影響圖像質量。
未經染色的老鼠心臟切片在80kV透射電鏡下得到的圖像,與LVEM5下得到的圖像。
LVEM5采用5kV低加速電壓,圖像具有更好的對比度
TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式
LVEM5是世界上*的臺式透射電子顯微鏡,同時也是*的低加速電壓(5kV)透射電鏡。同傳統透射電鏡(80-200kV)相比,增加了電子束與樣品的相互作用,從而提高了圖像對比度
? 提高了圖像對比度
? 無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品(如生物樣品)
? 避免染色造成的假象,觀察樣品真實結構
掃描電鏡(SEM)模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下,LVEM5采用4分割背散射探測器,提供多個觀測角度。
普通掃描電鏡在觀察不導電樣品時,需要對樣品進行噴金、噴碳處理,以增加樣品導電性。LVEM5的另一優點在于,無需噴金可直接觀測不導電樣品。
分辨率3nm,放大倍數 640x - 1,000,000x,圖像采集:2048 x 2048
在掃描透射電子顯微(STEM)模式下,電子束被聚焦到很小直徑,在樣品上進行掃描。可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品 ED模式
操作簡單,換樣快捷,成本低廉
LVEM5直觀的用戶界面、簡便的控制臺設計,使用戶僅需極少的培訓,即可輕松操作。讓用戶在使用時更加舒適。
不同于傳統透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時間,LVEM5更換樣品僅需3min,節省大量時間。
LVEM5*購置費用僅為傳統電鏡的1/5左右,且在一款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能,真正的物超所值。LVEM5*的設計優勢,在使用中無需冷卻水,無需專業實驗室,維持成本極低。
應用案例
布魯克HysitronPI95透
冷凍透射電子顯微鏡
ThermoScientific冷凍
透射電子顯微鏡H-9500
原位液體加熱/加電樣
原位氣體加熱樣品臺
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