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冷熱沖擊試驗箱(二箱)

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該系列產品適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產品、各種電子元氣件、電線、電纜等在高低溫快速交變環境下,確定組件、設備和其他產品經受環境溫度迅速變化的能力。?冷熱沖擊試驗箱(二箱)QCH-E-42(A-C) QCH-E-80(A-C) QCH-E-150(A-C) QCH-E-200(A-C) QCH-E-252(A-C)產品型號:外形尺寸:溫度范圍:升溫時間:用途描述:110x193x145 120x206x155 130x239x167 130x257x170 140x263x175 (cm)(150℃~A:-45℃; B:-55℃ ; C:-65℃ ); (高溫區:+60℃~+150 ℃ ;低溫區:-10℃~-65℃)(蓄熱區)RT~200℃約需35分鐘

詳細信息 在線詢價

該系列產品適用于航空航天產品、信息電子儀器儀表、材料、電工、車輛、金屬、電子產品、各種電子元氣件、電線、電纜等在高低溫快速交變環境下,確定組件、設備和其他產品經受環境溫度迅速變化的能力。?
冷熱沖擊試驗箱(二箱)

QCH-E-42(A-C) QCH-E-80(A-C) QCH-E-150(A-C) QCH-E-200(A-C)

QCH-E-252(A-C)

產品型號:


外形尺寸:


溫度范圍:


升溫時間:

用途描述:

110x193x145 120x206x155 130x239x167 130x257x170

140x263x175 (cm)

(150℃~A:-45℃; B:-55℃ ; C:-65℃ ); (高溫區:+60℃~+150 ℃ ;低溫區:-10℃~-65℃)
(蓄熱區)RT~200℃約需35分鐘
技術參數?

型號

QCH-E-42A~C

QCH-E-80A~C

QCH-E-150A~C

QCH-E-200A~C

QCH-E-252A~C

內部尺寸

40x35x30

50x40x40

60x50x50

60x60x55

70x60x60

外部尺寸

110x193x145

120x205x155

130x239x167

130x257x170

140x263x175

溫度范圍

150℃~A:-45℃;B:-55℃;C:-65℃;(高溫區:+60℃~+150℃;低溫區:-10℃~-65℃

升溫時間(蓄熱區)

RT~200約需35分鐘

降溫時間(蓄冷區)

RT~-70約需55分鐘

溫度恢復時間/轉換時間

5min/10秒以內

溫度控制精度/分布精度

±0.5℃/±2.5

內外部材質

外箱為SUS304#不銹鋼表面條紋處理或冷軋鋼板烤漆處理(可選),內箱為SUS304#不銹鋼

保溫材質

耐高溫高密度硅酸鋁纖維棉或PU發泡膠絕緣體材料

系統

P.I.D+S.S.R+微電腦平衡調溫控制系統

冷卻系統

半封閉式雙段壓縮機(水冷式)/全封閉式雙段壓縮機(風冷式)

安全保護裝置

無熔絲開關、壓縮機高低壓保護開關、冷媒高壓保護開關、故障警告系統、電子警報器

配件

觀察窗(特殊選購型)、上下可調隔層兩片、通電測線孔、腳輪、水平支架

電源

380V 50/60HZ

重量(大約)

500kg

700kg

900kg

1100kg

1300kg

控制器

韓國“TEMI”或日本“OYO”牌任選

壓縮機

法國“泰康”/德國“比澤爾”

可程式恒溫恒濕試驗箱
真空烘箱
冷熱沖擊試驗箱(三箱)
冷熱沖擊試驗箱
冷熱沖擊試驗箱(二箱)
發布時間: 2019-07-17 14:50
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產品詳情
兩箱設備區分為高溫區、低溫區,測試產品置于提籃中,沖擊時提籃將測試產品移進高溫區或低溫區進行衡擊,測試產品為動態式。
采用觸控式圖控操作界面,操作簡易。
沖擊方式應用風路切換方式將溫度導入測試區,做冷熱沖擊測試。
高溫沖擊或低溫沖擊時,時間可達999H,循環周期可達9999次。
系統可自動循環衙擎或手動選擇性沖擊。
冷卻采用二元冷凍系統,降溫效果快速,冷卻方式為水冷式。
不可實驗沖擊常溫。
主要特點?
滿足標準?

GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007 電工電子產品環境試驗第2部分:試驗方法 試驗A:低溫

GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2:2007 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 溫度沖擊試驗

GJB150.5A-2009 溫度沖擊試驗

GJB360B-2009 溫度沖擊試驗

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件


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