光學傳遞函數測量儀應用于可見光、紅外、(單)雙無限(無焦)、有限系統的測量和評價
光學傳遞函數測量儀應用于可見光、紅外、(單)雙無限(無焦)、有限系統的測量和評價。除光學傳遞函數外,
它還可以提供焦距、單項像差、視場等參數的測量。傳函測試儀目前被廣泛應用于光學鏡頭、像增強器、CCD攝像
機、紅外成像系統等其它成像系統的像質評價和相關參數測量,可以將測量結果以數據的方式顯示和記錄,更便于
進行處理和對比。
功能
測試光學系統、鏡頭、器件的調制傳遞函數MTF、相位傳遞函數PTF、焦距EFL、截距FFL、焦面、畸變、場曲、
色差、像散、相對透過率等。
測試范圍
UVB | Ultra-Violet B | 193 - 360 nm |
NUV | Near Ultra-Violet | 325 - 500 nm |
VIS | Visible | 400 - 700 nm |
NIR | Near Infra-Red | 700 - 1000 nm |
SWIR | Short-Wave Infra-Red | 1 - 3 um |
MWIR | Medium-Wave Infra-Red | 3 - 5 um |
LWIR | Long-Wave Infra-Red | 8 - 12 um |
技術規格
光譜范圍 | 350nm-1000nm,1-3um,3-5um,8-12um |
離軸角度 | ±90° |
焦距范圍 | 3-1000mm |
可測物鏡口徑 | 5-200mm |
空間頻率范圍 | 0-1600lp/nm(350nm-1000nm);0-100 lp/nm(1-3um); 0-60 lp/nm(3-5um,8-12um) |
MTF測量精度 | ±5’ |
MTF測量重復性 | ±0.01 |
焦距測量精度 | 優于±0.5% |
畸變測量精度 | 優于±0.5% |
場曲測量精度: | 優于±5um |
色散測量精度 | 優于±0.002dpt |
測查測量精 | 優于±5um |
傳函儀結構
傳遞函數系統工作原理圖
系統組成
反射式準直鏡,光束折疊鏡、擺臂,紅外探測器(1-3umPbS,3-5um/8-12umMCT),紅外光源,紅外濾光片,紅外
目標(狹縫),像分析器調焦、視場、垂直移動平臺,信號斬波器,信號處理器,平臺控制器,計算機及軟件。
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