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光學傳遞函數測試儀

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光學傳遞函數測量儀應用于可見光、紅外、(單)雙無限(無焦)、有限系統的測量和評價

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     光學傳遞函數測量儀應用于可見光、紅外、(單)雙無限(無焦)、有限系統的測量和評價。除光學傳遞函數外,

    它還可以提供焦距、單項像差、視場等參數的測量。傳函測試儀目前被廣泛應用于光學鏡頭、像增強器、CCD攝像

    機、紅外成像系統等其它成像系統的像質評價和相關參數測量,可以將測量結果以數據的方式顯示和記錄,更便于

    進行處理和對比。

    功能

     測試光學系統、鏡頭、器件的調制傳遞函數MTF、相位傳遞函數PTF、焦距EFL、截距FFL、焦面、畸變、場曲、

     色差、像散、相對透過率等。

    測試范圍

UVB

Ultra-Violet B

193 - 360 nm

NUV

Near Ultra-Violet

325 - 500 nm

VIS

Visible

400 - 700 nm

NIR

Near Infra-Red

700 - 1000 nm

SWIR

Short-Wave Infra-Red

1 - 3 um

MWIR

Medium-Wave   Infra-Red

3 - 5 um

LWIR

Long-Wave Infra-Red

8 - 12 um

    技術規格

光譜范圍

350nm-1000nm,1-3um,3-5um,8-12um

離軸角度

±90°

焦距范圍

3-1000mm

可測物鏡口徑

5-200mm

空間頻率范圍

0-1600lp/nm(350nm-1000nm);0-100 lp/nm(1-3um);

0-60 lp/nm(3-5um,8-12um)

MTF測量精度

±5’

MTF測量重復性

±0.01

焦距測量精度

優于±0.5%

畸變測量精度

優于±0.5%

場曲測量精度:

優于±5um

色散測量精度

優于±0.002dpt

測查測量精

優于±5um

   傳函儀結構

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             傳遞函數系統工作原理圖


     系統組成

     反射式準直鏡,光束折疊鏡、擺臂,紅外探測器(1-3umPbS,3-5um/8-12umMCT),紅外光源,紅外濾光片,紅外

     目標(狹縫),像分析器調焦、視場、垂直移動平臺,信號斬波器,信號處理器,平臺控制器,計算機及軟件。





 


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