FormtracerSV-C3200/4500525系列－表面粗糙度和輪廓測量系統機臺特點：表面粗糙度測量功能●高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供

Formtracer SV-C3200/4500

525系列－表面粗糙度和輪廓測量系統

機臺特點：

表面粗糙度測量功能

●高分辨力型Z1軸檢出器作為標準件提供。

  Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm（測量范圍為8μm時）。

●X軸內置高精度玻璃光柵尺，直接讀取X軸移動距離，

  在高精度精準定位下，完成間距參數的評價。

●檢出器測力有4mNt 0.75mN可選。

  輪廓測量功能

●Z1軸（檢出器）上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀

  取測針的弧形軌跡，以實現高精度和高分辨力。與傳統型號相比，新測臂使Z1軸測

  量范圍增大了10mm同時減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此

  接觸就能完成測臂的裝卸，提高了易用性。

●專為CV-4500系列增加了以下兩大特性：

  (1)裝配雙面測針，實現垂直方向（上/下）連續測量，

  所獲取的數據實現簡單分析以往難以測量的內螺紋有效直徑。

  (2)測力可在FORMTRACEPAKL軟件中設置。無需調整配重位置。

●的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，

  通過簡單的操作就能進行高級分析并即刻輸出結果。

●表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結合在一起，節省安裝空間。