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當前位置:儀器網 > 產品中心 > 物性測試儀器及設備>無損檢測/無損探傷儀器>磁粉探傷儀> TCEW-1000交直流磁粉探傷機
時代TCJ-LF50D/TCZ-LF
TCEW-1000A交直流磁粉
TCEW-4000A交直流兩用
TCEW-6000交直流兩用
TCEW-2000A交直流磁粉
TCBD-2000A移動式半波
簡單介紹: TCEW-1000交直流磁粉探傷機
磁粉探傷機是根據磁化原理設計的,用于檢查鐵磁性材料制成的零件,可以發現零件表面或近表面因鍛壓,淬火,研磨,疲勞裂紋,非金屬雜質等極細微的缺陷及裂紋;本機采用可控硅調壓技術,并選用進口“PC”機進行自動程序控制,夾持—噴灑磁懸液—磁化—判廢—松夾。其夾持采用氣缸夾緊方法。
磁粉探傷儀
CDX-II磁粉探傷儀
CDX-I磁粉探傷儀
逆變磁粉探傷儀
CDX-3L多功能磁粉探傷
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