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HS PA30-S 超聲波相控陣檢測儀

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產品概述這款設備多用于螺栓裂紋及緊固應力檢測,能夠對多種不同的加工工藝及結構形態內部的缺陷(裂紋、夾雜、疏松、氣孔等)進行檢測、定位、評估和診斷

詳細信息 在線詢價

  • 產品概述

這款設備多用于螺栓裂紋及緊固應力檢測,能夠對多種不同的加工工藝及結構形態內部的缺陷(裂紋、夾雜、疏松、氣孔等)進行檢測、定位、評估和診斷。

功能特點

多能一體,小體積兼容螺栓裂紋檢測、螺栓預緊力檢測、TOFD檢測及A超檢測功能。

A、C、L、3D多視圖角度顯示檢測結果,判斷缺陷更簡單。

檢測界面數據可視化,輔以智能化一鍵波形搜索,檢測速度更快。

采用聲速差與標準模型的對比算法,螺栓預緊力結果更精確,精度至高可達0.3ns。

儀器檢測簡單,相控陣晶片自動校準,探頭直接放置在螺栓端頭處即可直接讀數。

超聲波設備小巧、便攜、節能,依靠便攜式的小容量電源就能長時待機工作,利于現場高空作業。




技術參數

參數分類

參數選項

相控陣通道

常規通道

PA/UT配置

 

脈沖發生器

激勵脈沖電壓

50V-100V

200V-350V

脈沖形式

負方波

負方波

發射脈沖寬度

30ns-500ns可調

30ns-500ns可調

脈沖上升時間

<8ns

<15ns

發射脈沖重復頻率

10KHz可調

1KHz可調

延遲

0-20us/2.5ns

0-655us/10ns

發射阻抗

/

500/50Ω


接收器  



數據采集


采樣率

100MHz/10bit

125MHz/8bit(TOFD,A超)1000MHz/8bit(螺栓應力)

A掃深度

8192

2048

聚焦模式

常規/動態/全范圍

/

聚焦類型

深度/聲程/水平

/

檢波

射頻、正檢、負檢、全檢

射頻、正檢、負檢、全檢


掃描與顯示


掃描類型

扇掃/線掃/復合掃

/

顯示模式

A/B/C/L/S/3D

A/B/C

可編程TCG

點的數量

32個

/

增益量

40dB,步距0.1dB

/

增益斜率

40dB/us

/

數據存儲

256GB


顯示器



尺寸

8.4''

分辨率

1024×768

觸摸屏類型

電容式觸摸屏

I/O接口




USB

USB3.0/ USB2.0

以太網

1000Mb/s(USB轉換器)

視頻輸出

HDMI

編碼器

ODU-7PIN雙路編碼器

語言

中文/英文


電源


整機尺寸

直流供電電壓

DC24V

電池

11.1V-13AH

連續工作時間

≥4小時


280×210×80(mm)

整機重量

3.5Kg(含電池)

工作溫度

(0-40)℃(參考值)

存放溫度

(-10-40)℃(參考值)



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