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當前位置:儀器網 > 產品中心 > 物性測試儀器及設備>其它物性測試儀器及設備>其它> 半微量分析天平
手持式X熒光光譜儀
BRUKER手持式X熒光光
便攜式直讀光譜儀
臺式全譜直讀光譜儀
產品參數/Productparameter裝載新一代質量傳感器“UniBloc”在半微量分析天平中采用“UniBloc”阻斷風的影響采用機械組件的密封結構、抑制了過去的天平難以抑制的因風對流而產生的搖晃
裝載新一代質量傳感器“Uni Bloc”
AUW-D系列
AUW系列
AUW220D
AUW120D
AUW320
AUW220
AUW120
(321-62900-12)
(321-62900-11)
(321-62900-03)
(321-62900-02)
(321-62900-01)
220g/82g
120g/42g
320g
220g
120g
0.1mg/0.01mg
0.1mg
約f 80
約長220×寬330×高310mm
約7kg
約7VA
RS-232C,數據I/0,鍵盤
○
PSC全自動校準
定時校準
電動校準
機內時鐘
ISO打印輸出
直通視窗
間隔定時輸出
RS-232 1/F
全數字控制
比重測定(需選購件)
個數測定、單位換算
模擬顯示
電池(選購件)適用
型號(P/N)
AUX系列
AUY系列
AUX320
AUX220
AUX120
AUY220
AUY120
(321-62900-06)
(321-62900-05)
(321-62900-04)
(321-62900-08)
(321-62900-07)
稱量能力
最小顯示值
稱量盤尺寸(mm)
主機尺寸
主機重量
耗電量
輸出入
附背燈液晶
半導體封裝材料高低溫
管材負壓試驗機真空度
MBRELECTRONICS低溫合
微電腦軸偏差測試儀
西安濕海綿多電壓針孔
微小載荷拉伸壓縮試驗
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