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FLEXAFM 原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)

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原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng),適用于所有對光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡聯(lián)用能力感興趣的客戶。這套系統(tǒng)包括一個通用的FlexAFM倒置光學(xué)顯微鏡樣品臺,一個顯微鏡特定的樣品適配器,針對不同的顯微鏡(例如,Zeiss或者Olympus),和FlexAFM照明修正光學(xué)器件。

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原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng) 

原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng),適用于所有對光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡聯(lián)用能力感興趣的客戶。這套系統(tǒng)包括一個通用的FlexAFM倒置光學(xué)顯微鏡樣品臺,一個顯微鏡特定的樣品適配器,針對不同的顯微鏡(例如,Zeiss或者Olympus),和FlexAFM照明修正光學(xué)器件。

原子力-倒置顯微鏡聯(lián)用系統(tǒng)主要特點(diǎn)是: 
• 針對Zeiss Axiovert/Axio Observer, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti, 和 Leica DMI 系列顯微鏡的連接適配器。其他型號倒置光學(xué)顯微鏡可根據(jù)型號定制。 
• 直觀的操作,由于原子力圖像和倒置光學(xué)顯微鏡的光學(xué)視場有著相同的方位。
• 懸垂臂在光學(xué)視場中的對中是通過原子力顯微鏡掃描頭在X和Y方向上的獨(dú)立運(yùn)動,原子力掃描軸和光學(xué)圖像軸有1mm平行的距離。
• 對準(zhǔn)芯片技術(shù),消除了更換懸垂臂后在光學(xué)圖像中從新進(jìn)行懸垂臂對中的需要。
• 樣品定位在X和Y方向有12mm行程。
• 樣品座可適應(yīng)顯微鏡載物片和培養(yǎng)皿。
• 可能使用高數(shù)值孔徑透鏡與蓋玻片底培養(yǎng)皿結(jié)合。

應(yīng)用
倒置光學(xué)顯微鏡和AFM成像聯(lián)用,提供了*的機(jī)會使光學(xué)數(shù)據(jù)(例如相對比或者熒光數(shù)據(jù))可以和高分辨率形貌圖像和力學(xué)數(shù)據(jù)結(jié)合,這些數(shù)據(jù)只有AFM能提供。

由于FlexAFM的開放式光路設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),光線能通過FlexAFM幾乎不受妨礙,并且懸垂臂支架SA特殊的SureAlign™光學(xué)設(shè)計(jì)使FlexAFM在液體測試環(huán)境中操作變得簡單方便,無需再進(jìn)行激光的對中。與倒置光學(xué)顯微鏡選件聯(lián)用后,F(xiàn)lexAFM因而變成了在生理學(xué)環(huán)境中細(xì)胞成像和描述特征的理想裝置。在這個例子中,活的Rat-2纖維原細(xì)胞被成像。 

FlexAFM和倒置光學(xué)顯微鏡聯(lián)用的應(yīng)用當(dāng)然不限于生命科學(xué)。下面的樣品被展示,有涂層的玻璃樣品被分析通過光學(xué)顯微鏡和原子力顯微鏡。AFM提供了更高分辨率數(shù)據(jù)在觀測的區(qū)域上,并解釋了在光學(xué)顯微鏡里看到結(jié)構(gòu)的本性。它也能用于涂層厚度測定。

皮氏培養(yǎng)皿里德細(xì)胞圖像:(左)倒置光學(xué)顯微鏡的相對比圖,通過一個FlexAFM裝置和倒置光學(xué)顯微鏡選件,顯示活的Rat-2纖維原細(xì)胞和AFM懸垂臂在細(xì)胞培養(yǎng)基里。(右)在相同裝置下細(xì)胞的AFM圖像,顯示了Rat-2細(xì)胞骨架的細(xì)節(jié),這是容易辨別的穿過這些細(xì)胞的細(xì)胞膜。AFM圖像尺寸:70 μm × 60 μm。

有涂層玻璃的相對比(上方)和AFM圖像(下方)。在光學(xué)顯微鏡中觀測到的是相似紋理的結(jié)構(gòu)(例如橢圓形內(nèi)部)相對應(yīng)的涂層中的孔洞,作為例證通過AFM測量。他們提供一個*的方法測定涂層的厚度,這個例子等于40nm。AFM圖像尺寸:90 μm × 35 μm。

原子力顯微鏡與傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡聯(lián)用技術(shù):
• 針對Zeiss Axiovert/Axio Observer, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti, 和 Leica DMI 系列顯微鏡的連接適配器。其他型號倒置光學(xué)顯微鏡可根據(jù)型號定制。
• 直觀的操作,由于原子力圖像和倒置光學(xué)顯微鏡的光學(xué)視場有著相同的方位。
• 懸垂臂在光學(xué)視場中的對中是通過原子力顯微鏡掃描頭在X和Y方向上的獨(dú)立運(yùn)動,原子力掃描軸和光學(xué)圖像軸有1mm平行的距離。
• 對準(zhǔn)芯片技術(shù),消除了更換懸垂臂后在光學(xué)圖像中從新進(jìn)行懸垂臂對中的需要。
• 樣品定位在X和Y方向有12mm行程。
• 樣品座可適應(yīng)顯微鏡載物片和皮氏培養(yǎng)皿。
• 可能使用高數(shù)值孔徑透鏡與蓋玻片底培養(yǎng)皿結(jié)合。

倒置光學(xué)顯微鏡要求
• 一個10× 和/或 20× 透鏡。
• 一個長焦距聚光器(65mm焦距或更長)。
• 無倒置光學(xué)顯微鏡樣品臺(替換成FlexAFM倒置光學(xué)顯微鏡選件;保證測量的穩(wěn)定性和減少采購倒置光學(xué)顯微鏡的費(fèi)用)。


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