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薄膜電導TOC檢測技術

來源:寧波市江東歐億檢測儀器有限公司   2014年11月30日 11:44  

 Sievers 薄膜電導率檢測技術用于檢測總有機碳(TOC)含量,并被證明為十分可靠的檢測方法。不同于非分散紅外檢測(NDIR—non-dispersive infrared)技術,電導率檢測法數值相對穩定,也不會隨著時間的變化有明顯的漂移。因此使用薄膜電導率檢測技術,設備無需經常校準,所得到的檢測結果也十分穩定。

Sievers薄膜電導率檢測技術使用了選擇性氣體滲透薄膜,只有氧化產生的CO2能通過這層薄膜進入檢測艙。從而防止酸、堿和含鹵素等雜原子化合物的干擾,因此相比直接電導率法,Sievers薄膜電導率檢測法減少了檢測中的“假正“現象,提供了無比優異的選擇性、靈敏度、穩定性、度和準確度。

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