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【簡單介紹】
【詳細說明】
穆勒矩陣測量系統
高速高精度穆勒矩陣測量系統
150XT 型穆勒矩陣是公司研發的一款高速高精度穆勒矩陣測量系統，在不到一秒內即可實時測得穆勒矩陣16組參數或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發的這款產品對于科研研究，工業測量，光學組件偏振特性測量，制造業生產/質檢等領域都有著廣泛應用可能。整套系統報包含完整軟件支持，可以直接繪制出各種各樣光學、生物、化學樣品的線性相位延遲，圓偏相位延遲（或旋光），線性二向色性偏振衰減，圓二向色性偏振衰減圖樣。
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高速高精度穆勒矩陣測量系統通過使用調制器和相應偏振測量技術， 150XT 型穆勒矩陣橢偏儀在不到一秒內即可實時測得穆勒矩陣16組參數或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司研發的這款高速高精度穆勒矩陣測量系統對于科研研究，工業測量，光學組件偏振特性測量，制造業生產/質檢等領域都有著廣泛應用可能。這套穆勒矩陣測量系統報包含完整軟件支持，可以直接繪制出各種各樣光學、生物、化學樣品的線性相位延遲，圓偏相位延遲（或旋光），線性二向色性偏振衰減，圓二向色性偏振衰減圖樣。
產品特點
? 的穆勒矩陣探測精度（全矩陣）
? 穆勒矩陣16組參數同步測量
? 樣品所有光學偏振特性同步測量
? 高重復精度
? 高速測量
? 系統光路固定（光路部分無移動組件，更穩定）
? 對不同尺寸待測樣品同樣支持測量掃描
? 光彈偏振測量技術
? 簡易，人性化操作軟件界面
產品應用：
科研/工業研發
? 品控/質檢測量
? 如下各種樣品的全偏振特性的測量：
1. 科研級復雜內部學組件
2. 各種雙折射/
3. 復雜層級LCD
4. 同晶晶體
5. 各向異性晶體
6. 化學和生物光學各向異性材料
7. 由磁場/電場引起的各向異性樣品
規格參數
穆勒矩陣 (不同參數，靈敏度不同)
約3.533 mm厚度 C切割石英板狀樣品沿X-Y軸15°旋轉
（0.5°步長）穆勒矩陣測量原始數據
偏振測量參數
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