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【簡單介紹】
【詳細說明】
a | 非球面柱面鏡
表面形狀偏差小于0.5 µm，高折射率玻璃制成的非曲面柱面鏡
a | 非球面柱面鏡 - 產品簡介：
非球面鏡的形狀經過優化，具有出色的成像特性。非球面鏡主要優勢在于能夠校正球面像差。使用非球面鏡可以減少光學系統中的元件總數。這樣，與基于球面透鏡的同類系統相 比，其結構設計更加緊湊、功能更強大。
德國Asphericon公司的StockOptics產品（庫存標準產品）種類繁多，有包含精密拋光的非球面透鏡、非球面柱面鏡和錐透鏡的豐富產品組合任您挑選。Asphericon特別推出的非球面鏡、錐透鏡、非球面柱面鏡和已安裝光學器件——得益于asphericon在高精度非球面鏡制造領域的技術者地位。質量優異、交付快速，可帶來諸多受益。除此之外，Asphericon也可根據客戶要求提供定制型非球面透鏡。
柱面鏡或非球面柱面鏡是具有圓柱面的光學元件，其橫截面不同于圓形。實際應用包括平凹和平凸柱面鏡以及具有球面或非球面反面的柱面鏡。與透鏡相比，柱面不是在焦點處而是沿著焦線將入射光聚束。例如，圓柱體可用于照明技術，例如變形工藝。它們還用于測量儀器、、激光掃描儀以及醫療技術中標記圖案的生成。
精密拋光非球面鏡可實現更優的光束能量分布。特別適合您要求苛刻的激光應用。 也可提供已安裝透鏡。
a | 非球面柱面鏡 - 主要優點：
RMSi ≤ 0.5 µm的表面形狀偏差
長焦距（f/d 2.0）
可提供3種標準鍍膜（可根據要求定制鍍膜）
激光損傷閾值：12 J/cm2，100 Hz，6 ns，532 nm
現貨供應
符合RoHS標準
a | 非球面柱面鏡 - 產品特性：
| 表面形狀偏差（RMSi） | [ µm ] | ≤0.5 |
| EFL容差 | [ % ] | ≤0.1 |
| 表面缺陷 | [ 傷痕-亮點 ] | 60-40 |
| 寬度容差 | [ mm ] | +/-0.05 |
| 長度容差 | [ mm ] | +/-0.1 |
| 直徑容差 | [ mm ] | ±0.05 |
| 通光孔徑 | [ % ] | ≥90 |
| AR膜 | ||
| A: RMAX<1.0%, ravg≤0.4%,="" 400-600="" nm,="" aoi=""> | ||
| B: RMAX<1.0%, ravg≤0.4%,="" 600-1050="" nm,="" aoi=""> | ||
| C: RMAX<1.0%, ravg≤0.4%,="" 1000-1600="" nm,="" aoi=""> | ||
說明：
1、RMSi對應于ISO 10110-5（表面形狀容差）。
2、對于CHL45-32、CHL50-40透鏡，請考慮中心厚度容差±0.1。
3、可根據要求提供定制鍍膜。
StockOptics - 庫存標準產品
| 產品代碼 | 尺寸 | EFL | NA | f/d | WD | 材料 |
| [ mm ] | [ mm ] | [ mm ] | ||||
| CHL10-08-P | 10 x 10 | 8 | 0.54 | 0.8 | 6.3 | S-LAH64 |
| CHL12-10-P | 12.5 x 12.5 | 10 | 0.55 | 0.8 | 7.2 | S-LAH64 |
| CHL15-12-P | 15 x 15 | 12 | 0.54 | 0.8 | 9.2 | S-LAH64 |
| CHL18-15-P | 18 x 18 | 15 | 0.53 | 0.83 | 11.6 | S-LAH64 |
| CHL20-18-P | 20 x 20 | 18 | 0.49 | 0.9 | 14.3 | S-LAH64 |
| CHL25-20-P | 25 x 25 | 20 | 0.54 | 0.8 | 15.8 | S-LAH64 |
| CHL30-26-P | 30 x 30 | 26 | 0.52 | 0.87 | 21.5 | S-LAH64 |
| CHL45-32-P | 45 x 45 | 32 | 0.61 | 0.71 | 24.7 | S-LAH64 |
| CHL50-40-P | 50 x 50 | 40 | 0.55 | 0.8 | 32.1 | S-LAH64 |
生產能力：
| StockOptics - 庫存標準產品 | 定制非球面透鏡 | ||
| 直徑 | 10x10 - 50x50 mm | max. 200x96 mm | |
| RMSi | ≤ 500nm | 20nm | |
| 表面缺陷（傷痕/亮點） | 60 - 40 | 20 - 10 | |
| 鍍膜 | 4種標準鍍膜 | 客戶特定 | |
| 激光損傷閾值 | 12J/cm2, 100Hz, 6ns, 532nm | 客戶特定 | |
| 全表面干涉測量 | 可選 | 可選 | |
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