主機型號

MiniTest720

MiniTest730

MiniTest740

探頭類型

內置

外置

內置外置可換

數據記憶組數

10

10

100

存儲數據量

*多10,000個

*多10,000個

*多100,000個

統計值

讀值個數、*小值、*大值、平均值、標準方差、變異系數、組統計值(標準設置/自由配置)

校準程序符合國際標準和規范

ISO、SSPC、瑞典標準、澳大利亞標準

校準模式

出廠設置校準、零點校準、兩點校準、三點校準，使用者可調節補償值

極限值監控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

μm，mm，cm；mils，inch，thou

數據接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節AA電池

標準

DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC- PA 2

操作溫度 /存放溫度

- 10℃~60℃/- 20℃~70℃

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

約175g

約210g

約175g(內置)/230g(外置)

探頭特性

F1.5，N07，FN1.5

F2

F5，N2.5，FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0~1.5mm

0~0.7mm

0~2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范圍

小工件，薄涂層

粗糙表面

標準探頭，使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應

電渦流

磁感應

磁感應

電渦流

磁感應

信號處理

探頭內部32位信號處理(SIDSP)

**度

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

*小曲率半徑(凸)

1.0mm

1.5mm

5mm

*小曲率半徑

(凹，外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

(凹，內置探頭)

30mm

30mm

30mm

*小測量面積

?5mm

?10mm

?25mm

*小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續模式下測量速度

每秒20個讀數

單值模式下*大測量速度

每分鐘70個讀數