電化學工作站 型號:CS150 儀器資料: CS系列電化學工作站由高速MCU、高精度FET集成電路組成,內置DDS數字信號合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關分析器和雙通道高速16bit/高精度24bitAD轉換器。能完成線性掃描伏安(LSV)、循環伏安(CV)、階梯波循環伏安(SCV)、方波循環伏安(SWV)、差分脈沖伏安(DPV)和常規脈沖伏安(NPV)以及差分常規脈沖伏安(DNPV)等電分析方法;還可完成恒電流(位)極化、動電位(流)掃描、任意恒電流(位)方波、多恒電流(位)階躍、零電阻電流計、電化學噪聲(電偶電流)、電化學阻抗(EIS)等電化學測試等功能,所有測量功能均可定時自動進行,用于無人值守下的自動測量。 CS系列包括多種型號,可用于較大電流和較高槽壓的電化學測量和應用,例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±2A,槽壓為±21V。電壓控制范圍:±10V;電流控制范圍:±2.0A;電流測量下限為10pA。 CorrTestTM測試軟件是CS電化學工作站的控制平臺,軟件基于Windows98/2000/XP/Vista/Windows7操作系統,并遵守Windows軟件設計規則,易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實驗方法管理、多坐標圖形顯示和縮放、數據/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面,命令窗口所用的詞匯與通用的電化學術語保持*,全中文菜單和界面,方便用戶的教學和科研工作。 CorrTestTM測試軟件還具有特別針對材料和腐蝕電化學的實驗方法,包括鈍化曲線自動或人工反掃,電化學再活化法,溶液電阻(IR降)測量和補償法。CorrtestTM分析軟件則具有完善的數據分析功能,可對伏安曲線進行數字平滑、積分、微分運算,能對極化曲線進行電化學參數解析,包括極化電阻Rp,Tafel斜率ba,bc,腐蝕電流密度icorr,腐蝕速率計算等,還可計算噪聲電阻Rn和功率譜,并可將圖形以矢量方式拷貝到MicrosoftWord文檔中。 CS系列電化學工作站全部采用USB2.0接口與計算機通訊,設備安裝簡單,即插即用。 外形尺寸:36.5cm(寬)*30.5cm(深)*16cm(高) 儀器重量:6.5Kg 應用領域 1)研究電化學機理;物質的定性定量分析; 2)常規電化學測試,包括電合成、電沉積(電鍍)性能評價; 3)功能和能源材料(電池、超級電容器、納米材料、生物傳感器等)的機理和制備研究; 4)緩蝕劑、水質穩定劑、涂層以及陰極保護效率快速評價以及氫滲測試等; 5)金屬材料在導電性介質(包括水/混凝土/土壤等環境)中的腐蝕電化學測試。 儀器配置 每套工作站包括: 1)儀器主機一臺; 2)白金電極、參比電極、工作電極及電解池各一支(套); 3)模擬電解池一個; 4)USB數據線一條; 5)噪聲測量電纜線一條; 6)CorrTestTM測試與分析軟件CD一張。 技術指標: 硬件參數指標 恒電位電位控制范圍:±10V 恒電流控制范圍:±2.0A 電位控制精度:0.1%×滿量程讀數±1mV 電流控制精度:0.1%×滿量程讀數 電位靈敏度:10mV(>100Hz),3mV(<10Hz) 電流靈敏度:<10pA 電位上升時間:﹤1mS(<10mA),<10mS(<2A) 電流量程:2A~200nA,共8檔 參比電極輸入阻抗:1012W||20pF zui大輸出電流:2.0A 槽壓:±21V 電流掃描增量:1mA@1A/mS CV和LSV掃描速度:0.01mV~10000V/s 電位掃描時電位增量:0.1mV@1V/mS CA和CC脈沖寬度:0.0001~65000s DPV和NPV脈沖寬度:0.0001~1000s SWV頻率:0.001~100KHz CV的zui小電位增量:0.075mV AD數據采集:16bit@1MHz,20bit@1kHz, 電流與電位量程:自動設置 DA分辨率:16bit,建立時間:1mS 低通濾波器:8段可編程 接口通訊模式:USB2.0 電化學阻抗測量指標 信號發生器 頻率響應:10mHz~115KHz(CS350/CS310) 10mHz~1MHz(CS360) 交流信號幅值:0mV~2500mV 直流偏壓:-10~+10V DDS輸出阻抗:50W 波形:正弦波,三角波,方波 正弦波失真:<1% 掃描方式:對數/線性,增加/下降 zui大負載電容:1nF;zui大負載電感:10mH 信號分析器 積分時間:zui大值:106個循環或者105S 測量時間延遲:0~105秒 zui小值:10mS或者一個循環的zui長時間 直流偏置補償 電位自動補償范圍:-10V~+10V 電流補償范圍:-1A~+1A 帶寬調整:自動或手動設置,共8級可調 |