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簡介：蔡司X射線顯微鏡Versa憑借優異的大工作距離高分辨率（RaaD）的特性，成為了研究人員和科學家的“有力幫手”

簡介：擴展非破壞性納米尺度成像的范圍和價值使用蔡司Xradia810UltraX射線顯微鏡實現低至50nm的空間分辨率，這是基于實驗室的X射線成像系統中＊高的

簡介：Xradia410Versa彌補了高性能X射線顯微鏡與功能不強的計算機斷層掃描（CT）系統之間的差距

簡介：蔡司Xradia510Versa具有突破性靈活性的3D亞微米成像系統用這款X射線顯微鏡打破1微米分辨率的障礙，進行3D成像和原位／4D研究

簡介：蔡司Crossbeam系列的FIB-SEM結合了場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）出色的成像和分析性能，和新一代聚焦離子束（FIB）優異的加工性能

簡介：蔡司掃描電鏡EVO18是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡，為您提供優異的成像品質

簡介：蔡司開啟電子顯微鏡速度的革新時代借助MultiSEM顯微鏡，您可以充分運用91條并行電子束的采集速度

簡介：ZEISSSigma系列產品用于高品質成像與分析的蔡司場發射掃描電子顯微鏡靈活的探測，4步工作流程，的分析性能將的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的Gemini電子光學元件

簡介：蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像