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簡介：儀器由主機、測試臺、四探針探頭、真空泵、計算機等部分組成，測量數據既可由主機直接顯示，亦可由計算機控制測試采集測試數據到計算機中加以分析，然后以表格，圖形方式統計分析顯示測試結果。

簡介：多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定...

簡介：采用四探針測試技術，寶石導向軸套和高耐磨碳化鎢探針，定位準確，測量方便，精確，游移率小，壽命長，可測量片狀、塊狀等半導體材料及徑向、軸向的電阻率和擴散層的薄層電阻、方塊電阻；對薄膜等材料的電阻率也...

簡介：適用：電線電纜行業、導體及半導體材料行業，碳素、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部門對新材料之研究，是檢驗和分析材料樣品質量的一種重要的工具及有效方法。

簡介：測量范圍電阻率：10-2～102Ω-cm；方塊電阻：10-1～103Ω/□；電阻：10-3～9999Ω可測半導體材料尺寸直徑：Φ15～100mm；長（或高）度：≤400mm

簡介：多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定...

簡介：儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試

簡介：HAD-M-2型數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置，它可以測量片狀、塊狀半導體材料的電阻率，擴散層的薄層電阻（亦稱方塊電阻）。也可測柔性導電薄膜和玻璃等硬基底上導電膜的方塊...

簡介：GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準而設計的，于測量硅晶塊、晶片電...

簡介：1．主機采用的*電路設計，所測數值更精、更快、更準（一代為傳統式電路，缺點：體積大，速度慢，元器件繁多導致影響機器壽命）。2．屏幕采用液晶顯示（一代為只有數碼管顯示），手自一體（自動是標配，手動手...