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NanoMap-500LS 三維輪廓儀(接觸式)

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 aep technology中國辦事處
  • 品牌
  • 型號 NanoMap-500LS
  • 所在地 北京市
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時間 2015/12/2 9:00:00
  • 訪問次數(shù) 888

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接觸式三維形貌儀NanoMap-500LS利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測技術(shù)和超平整參照面-大型樣品臺掃描技術(shù),并與壓電陶瓷(PZT)掃描*結(jié)合,可以再不喪失精度的情況下,即得到超大樣品整體三維輪廓圖,又呈現(xiàn)局部三維形貌像。其中樣品臺掃描參考平面使用超高平坦度光學(xué)拋光平臺,有效解決了以往樣品臺掃面,由于絲杠公差引起的測試結(jié)果有亞微米量級的誤差。

詳細信息 在線詢價

利用掃描探針顯微鏡光杠桿位移檢測技術(shù)和超平整參照面-大型樣品臺掃描技術(shù),并與壓電陶瓷(PZT)掃描*結(jié)合,可以再不喪失精度的情況下,即得到超大樣品整體三維輪廓圖,又呈現(xiàn)局部三維形貌像。其中樣品臺掃描參考平面使用超高平坦度光學(xué)拋光平臺,有效解決了以往樣品臺掃面,由于絲杠公差引起的測試結(jié)果有亞微米量級的誤差。


主要應(yīng)用在金屬材料、生物材料、聚合物材料、陶瓷材料等各種材料表面的薄膜厚度,臺階高度,二維粗糙度(
Ra,Rq,Rmax...),三維粗糙度(Sa,Sq,Smax),劃痕截面面積,劃痕體積,磨損面積,磨損體積,磨損深度,薄膜應(yīng)力(曲定量率半徑法)等定量測量。擺脫了以往只能得到二維信息,或三維信息過于粗糙的現(xiàn)狀。將輪廓儀帶入了另一個高精度測量的新時代。

三維輪廓儀熱噪聲是同類產(chǎn)品zui低的。垂直分辨率可達0.1 nm 可測跨學(xué)科、跨領(lǐng)域的各種樣品表面,包括透明、金屬材料,半透明、高漫反射,低反射率、拋光、粗糙材料金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒…

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