美國博曼（Bowman） BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。Bowman BA-100 Optics 機型采用業界的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數倍乃至數十倍提高X射線激發強度。

美國博曼（Bowman） BA-100 Optics 臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀

產品描述：

臺式X射線熒光（XRF）鍍層測厚儀——為您提供高精度、快速簡便的鍍層厚度測量、元素分析，以及電鍍液分析。

Bowman BA-100 Optics 機型采用業界的多孔毛細管光學聚焦裝置，有效縮小測量點斑點的同時，可數倍乃至數十倍提高X射線激發強度。

Bowman BA-100 Optics 機型配備大面積的SDD（硅漂移探測器），有效拓展元素分析范圍，適應zui嚴格的微區、超薄鍍層，以及痕量元素分析需求。

優xiu的測試性能、突出的微區測量能力，Bowman BA-100 Optics機型是研究開發、質量管控的*XRF鍍層厚度及元素成分分析儀器。

穩定的X射線管

       •  微聚焦50瓦Mo靶射線管（其它靶材可選）; 小

         于100um的測量斑點

       •  射線出射點預置于射線管Be窗正中央

       •  長壽命的射線管燈絲

       •  *的預熱和ISO溫度適應程序

多毛細管聚焦光學結構

       •  顯著提高X射線信號強度

       •  獲得較準直器機型數倍乃至數十倍的信號強度

       •  小于100um直徑的測量斑點

       •  經過驗證，接近*的測量精度

應用領域：

常見的鍍層應用: 
PCB行業 
Au/Pd/Ni/Cu/PCB 
引線框架 
Ag/Cu 
Au/Pd/Ni/CuFe 
半導體行業 
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材 
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材 
線材 
Sn/Cu 
珠寶、貴金屬 
10,14,18Kt 
元素分析、合金分類、雜質分析、溶液分析、電鍍液分析等