X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。
可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑／結晶度／精密X射線結構解析等各種分析。

特點

• X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。
• 可通過峰面積計算進行定量分析。
• 可通過半高寬、峰形等進行粒徑／結晶度／精密X射線結構解析等各種分析。
• 配備高精度垂直型測角儀，適用于粉末、薄膜、難于固定的樣品、易溶樣品等各種樣品的測定。

規格

• X射線發生部：2kW或3kW（CPU控制）
• 測角儀：θ/20聯動、θ、2θ獨立
• 掃描范圍：－6°～163°（2θ）、－180°～180°（θ）
• 高精度角度重現性：±0.0001°

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 ：陳    

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