SPD 2000 多功能X射線衍射儀儀器簡介：
用途：定性及定量分析，殘余應力分析，薄膜，質地，非常規環境分析，奧氏體定量分析，晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算

SPD 2000 多功能X射線衍射儀儀器簡介：
 

用途：定性及定量分析，殘余應力分析，薄膜，質地，非常規環境分析，奧氏體定量分析，晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算

多功能X射線衍射儀 技術參數：
 

? 常規的定性和定量分析 
? 殘余應力分析 
? 薄膜，質地 
? 非常規環境分析 
? 殘留奧氏體定量分析 
? 晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算 
應用領域 
? 環境，土壤/巖石，粘土，礦石，陶瓷 
? 水泥，玻璃，石油，催化劑，聚合物 
? 農業科學，生物科學，化學，醫藥，化妝品，涂料 
? 核工業，鋼鐵，紡織，電子和磁性材料

多功能X射線衍射儀 主要特點：
 

SPD 2000為廣泛的分析需求提供了解決方案，從常規的定性和定量分析，到殘余應力分析，薄膜，質地，非環境分析，殘余奧氏體定量分析，晶粒尺寸/晶格應變和結晶度計算。 
SPD 2000的特點 
多功能X射線衍射儀 
有原位微處理器的超高穩定性的X射線發生器，微處理器可通過電腦串行接口控制 
帶有可旋轉管的管罩，可以使用點聚焦或行聚焦 
調焦Kα1單色器可以得到高亮度和分辨率 
使用Max-FluxTM光學系統的平行光束光學 
透射模式和反射模式之間可以自動轉換 
高精度，高速測角儀 
適合Ag，Cr， Fe， Cu， Co ， Mo 輻射的二級單色器 
填充氙氣的正比，閃爍計數器，線性或彎曲的位敏檢測器（PSD） 
非常規環境分析，低溫或高溫附件 
使用Microsoft Windows 98/NT/2000/ME 或 XP 操作系統，在32位環境下進行數據處理和儀器控制 
包括Rietveld精修的晶體結構軟件