用于多孔和粉體材料的比表面積及孔隙孔徑的分析，尤其適用于對納米材料的
分析研究。物理吸附分析主要用于材料的微觀物性分析，通過這些分析可以掌握納米材
料的物性和化學活性。

 單點和多點BET和Langmuir比表面積快速準確測量的理想工具 同時提供t-polt和其它多種方法進行總孔容積與微孔分析，包括測定碳黑統計厚度表面積（STSA）功能。儀器結合了平衡技術，引入參比管，采用雙管設計，*消除了由于液氮液面下降而造成的自由體積的誤差

· 自由空間校正可以不使用氦氣，和高精度的測量模式

· 儀器軟件包含了目前所有的數據處理方法：

單點和多點BET比表面積，Langmuir比表面積

Temkin and Freundlich等溫線分析

多種厚度層公示計算的BJH中孔和大孔的孔體積、孔面積對孔徑的分布（除2365外）

孔體積和用戶孔徑范圍內的總孔體積

MP法的微孔孔徑分布和t-plots、αs-plots得到的微孔總孔體積

DFT密度函數理論，包括NLDFT等

· 真正的全自動儀器，儀器面板無任何手動按鍵,所有的操作程序均由計算機來控制

· 選配多種脫氣站（樣品制備），用戶可根據實際情況選擇