結合飛納臺式掃描電鏡顆粒統計分析測量系統，以較快、較簡便的方式實現顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術的一大進步。快速、易用和超清晰成像質量的飛納臺式掃描電鏡，加上顆粒統計分析測量系統的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗、分析各 種各樣的顆粒、粉末樣品創造了一個強大工具。

顆粒統計分析測量系統

使用飛納臺式掃描電鏡顆粒統計分析測量系統，以快速、 簡便的方式實現顆粒的可視化分析。顆粒統計分析測量系統 支持用戶收集多種亞微米顆粒的形態和尺寸數據。

超越光學顯微鏡分析，*自動化的顆粒統計分析測量系統把 可視化分析提高到了一個新臺階，這將在粉末設計、開發和質量控制中產生進一步的探索和創新。
 

柱狀圖、散點圖和生成的圖像可以選定格式導出，并生成報告。 所有被測顆粒的柱狀圖都可以顯示為數量分布或體積分布。

散點圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來，以揭示相關性和 趨勢。飛納電鏡的顆粒系統支持用戶獲得他們需要的數據。因此，顆粒系統加快了顆粒分析速度，提高了產品質量。

飛納臺式掃描電鏡顆粒統計分析測量系統的主要優點：

· 以 ProSuit 為運行平臺

· 直接從飛納臺式掃描電鏡中獲取圖像

· 識別并確認例如破損顆粒、附著物和外來顆粒

· 相關顆粒的特征，如直徑，圓度，縱橫比和凹凸度

· 便捷的操作提升了工作效率并使計劃安排簡單、可預測

· 可輕松存儲于網絡或優盤，便于共享、交流或以后參考，采集圖像沒有限制

· 飛納臺式掃描電鏡的易用性和對環境的良好適應力，使得 任何人都可借此直觀研究各種樣品

· 同時提供優質照片和海量統計結果
 

顆粒統計分析測量系統的目標應用領域：

· 化妝品行業

· 食品行業

· 化工行業

· 制藥行業

· 陶瓷

· 顆粒以及表面涂層

· 顆粒狀添加劑

· 環境顆粒

· 過濾器/篩網公司