Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀采用先進的設計理念優化結構設計，充分有效地融合了動態光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測量Zeta電位。

Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀

產品介紹：

Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀復合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法，對于多組分、粒徑分布不均勻液態分散體系的分析以及膠體體系的穩定性分析具有*優勢，其優異的解析度及重現性是其他同類產品*的。

Nicomp 380 ZLS通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位。Zeta電位是對顆粒之間相互排斥或吸引力的強度的度量，是表征膠體分散系穩定性的重要指標，Zeta電位(正或負)越高，體系越穩定。整機采用模塊化設計，功能擴展靈活方便。*的樣品池設計使得進樣方便快捷、用樣量少，無須進行繁瑣的樣品池校準。

工作原理：

 動態光散射法(DLS)：有時稱為準彈性光散射法(QELS)，是一種成熟的非侵入技術，可測量亞微細顆粒范圍內的分子與顆粒的粒度及粒度分布，使用技術，粒度可小于1nm。 動態光散射法的典型應用包括已分散或溶于液體的顆粒、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運動，造成散射光光強的波動。 分析光強的波動得到顆粒的布朗運動速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度。

儀器參數：