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超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀基于光譜反射原理， 即在一定的波長光波下，通過追蹤被帶有層狀結構的基片反射和/或投射的光束來實現測量膜層厚度。測量薄膜厚度范圍可達1nm -1000 um。一般20ms可以得到測量結果。而且超高精度MProbe薄膜測厚儀尺寸非常小巧，8″x 4″x10″。超高精度 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀非常適合實驗室，產品質量檢測，研發使用。
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀連接方便，使用自如：不管實在實驗室獨立使用，還是在研發或者是工廠連續生產中不間斷在線持續監測膜層厚度，都能在10分鐘內完成安裝，與電腦或是網絡的連接十分方便
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀測量數據完整：除了膜層的厚度，還能測量光學參數和表面平整度
l 超高精度 MProbe有機薄膜厚度測量儀使用人性化，功能強大：一鍵式操作即可完成膜層厚度測量和分析；強大的工具-仿真功能，內部自我糾正，多樣品測量，動態監測和產品批量監測.
產品尺寸 | 8″x 4″x10″ |
測量精度 | <0.01nm or 0.01% |
穩定性 | <0.02nm or 0.03% |
光斑尺寸 | 2mm to 3um |
樣品大小 | 可以小至1 mm |
測量范圍 | 1 nm - 1000 um |
波長范圍 | 200nm -8000nm |
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