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梅特勒XP超越系列分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。顛覆性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。
梅特勒XP超越系列分析天平產品介紹
★梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。顛覆性的創新設計帶來了*的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。
★紅外感應器(SmartSense)，實現無需用手接觸的稱量操作：開關門、打印、去皮等
★彩色智能觸摸屏(SmartScreen)，實現安全，便捷的天平操作
★網格秤盤(SmartGrid)，獲得快速、準確稱量結果
★水平控制系統(LevelCControl), 在天平偏移水平位置時提供警告提示功能
★易巧稱量組件(ErgoClip)，滿足使用不同容器的稱量需求
★用戶管理工具(UserManagement)，可以獨立設置操作者的使用權限
★MinWeighzui小稱量值功能，提供符合規范的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活)
★天平校驗功能(BalanceCheck)，自動提示用戶使用外置砝碼校驗天平,確保稱量結果始終準確
★ProFACT專業級全自動校準技術，溫度漂移和時間設置觸發的內置砝碼自動校準和全自動線性校準,獲得精確稱量結果
★*可拆卸、清洗的防風罩設計，實現快速清潔
★高度可調節的內置防風罩，確保精確稱量結果
★可移動、分離的顯示控制終端，方便天平使用
★標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、USB、LocalCan、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備
★顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕
★6種內置應用稱量程序:簡單稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測定、統計功能、公事稱量
梅特勒XP超越系列分析天平技術指標
型號 | XP105DR | XP204 | XP205 | XP205DR | XP504 |
zui大稱量值 | 120g | 220g | 220g | 220g | 520g |
精細量程的zui大稱量值 | 31g | …… | …… | 81g | …… |
可讀性 | 0.1mg | 0.1mg | 0.01mg | 0.1mg | 0.1mg |
精細量程的可讀性 | 0.01mg |
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| 0.01mg |
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重復性：正常加載(sd) | 0.06mg（100g） | 0.07mg（200g） | 0.03mg（200g） | 0.06mg（200g） | 0.12mg（500g） |
重復性：微量加載 | 0.05mg（10g） | 0.05mg（10g） | 0.015mg（10g） | 0.05mg（10g） | 0.01mg（10g） |
重復性：精細量程微量加載 | 0.015mg（10g） | …… | …… | 0.015mg（10g） | …… |
線性 | 0.15mg | 0.2mg | 0.1mg | 0.15mg | 0.4mg |
四角誤差 | 0.2mg（50g） | 0.25mg（100g） | 0.2mg（100g） | 0.25mg（100g） | 0.4mg（200g） |
靈敏度漂移 | 4x10-6 | 3x10-6 | 2x10-6 | 2.5x10-6 | 3x10-6 |
靈敏度溫度漂移（10-30°C） | 1x10-6/°C | ||||
接口更新速率 | 23/s | ||||
天平外型尺寸 | (W×D×H mm)263×486.5×322 | ||||
秤盤尺寸(W×D mm) | 76×73 | ||||
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