美國Rtec微納米壓痕、劃痕儀，配備6容易互換的機械頭，高倍率顯微鏡和成像模塊（AFM和3維形貌儀）。

 壓痕和劃痕測試儀，配備6容易互換的機械頭，高倍率顯微鏡和成像模塊（AFM和3維形貌儀）。
請求專家測試，目睹和了解更多信息


6種機械頭
•壓痕頭 - 用于測量硬度，薄膜、超薄涂層和疏松材料的彈性模量。
•納米劃痕頭 - 通常使用的納米厚度的薄膜和超薄涂層（DLC，ALD，太陽能薄膜（ITO），光學鍍膜等）
•微壓痕頭 -用來測量硬度，薄膜、涂層和塊體材料的楊氏模量
•微劃痕頭 - 通常為微米級厚度的涂層（PVD，CVD，涂料，裝飾涂料等）
•宏刮頭 - 通常用于厚的涂層和塊體材料
•微米/納米摩擦學頭 - 用于測量磨損，靜態和動態摩擦，壽命，附著力，粘滑，等（薄膜和厚膜/涂層和塊體材料）
 
特點和亮點
該平臺配有防振臺，隔聲隔熱外罩，以確保環境的穩定
•3板式電容傳感器實現超高精度的位移測量
•用戶自定義的分析算法或模型來計算材料的性能
•ASTM，DIN和ISO標準