SFT9400系列 X射線熒光鍍層厚度測量儀
產(chǎn)品副名稱：可滿足所有度層厚度測量需求的雙檢測器型鍍層厚度測量儀
產(chǎn)品型號：SFT9400、SFT9450、SFT9455
產(chǎn)品特點：
★ 搭載有高功率X射線管及雙檢測器（半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管）

可對應(yīng)組合復(fù)雜的應(yīng)用程序，特別是可識別Ni和Cu之類能量較為接近的元素。

      能夠?qū)i/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次濾波器的情況下進行測量

      對于含Br的電路板，可以不受Br的干擾對Au的鍍層厚度進行高精度的測量

可測量0.01μm以下的超薄的Au鍍層厚度

★ 搭載塊體FP發(fā)軟件和薄膜FP法軟件

對應(yīng)含鉛的合金鍍膜和多層鍍膜等，適用于廣泛的運用領(lǐng)域

★ 適用超微小面積的測量

標(biāo)準(zhǔn)配備的15μmΦ的準(zhǔn)直器，可對超微小面積進行測量。

★ 搭載了可3段切換的變焦距光學(xué)系統(tǒng)

★ 擁有防沖撞功能

★ 搭載高精度樣品平臺，更可測量大型線路板（SFT9455）

★ 搭載激光對焦系統(tǒng)

★ 搭載測試報告自動生成軟件

產(chǎn)品介紹：
SFT9000系列里zui高級的機型「SFT9400系列」搭載有75W高功率X射線管與雙檢測器（半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管），能滿足“薄膜鍍層”、“合金鍍層”、“超微小面積測量”等鍍層厚度測量需求的高性能鍍層厚度測量儀。

此外，SFT9400系列還在測量鍍層厚度的基礎(chǔ)上，新增了可對不同被測物體積材料進行定性分析和成分分析的功能。

SFT9400系列產(chǎn)品規(guī)格
型號 SFT9400/SFT9450/SFT9455
儀器的特長微小面積對應(yīng)及高性能型
可測量元素原子序號22（Ti）~ 83（Bi）
X射線源小型空氣冷卻型高功率X射線管球（Mo靶）
管電壓：50kV 管電流：1.5mA Be窗
濾波器一次濾波器：Mo-自動切換
二次濾波器：無
照射方式上方垂直照射方式
檢測器半導(dǎo)體檢測器+比例計數(shù)管（不需液氮的檢測器）
儀器校正自動校正+手動校正
準(zhǔn)直器（標(biāo)準(zhǔn)配置） ○型（Φ0.015、Φ0.05、Φ0.1、Φ0.2mm）
安全性能樣品室門鎖，樣品防沖撞功能
樣品圖像對焦有（激光對焦）
樣品觀察 CCD攝像頭+倍率光學(xué)器+鹵素?zé)粽彰?
焦點切換功能 3段切換9400：10/40/70mm
9450：10/25/40mm
X-ray Station 臺式電腦
（OS; MS-Windows XP?）
打印噴墨打印機
應(yīng)用單層、雙層、多成分合金薄膜、成分比同時測量、化學(xué)鎳
軟件塊體FP法軟件、薄膜FP法軟件
測量功能自動測量、中心搜索、圖像識別處理
修正功能基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
統(tǒng)計處理功能 MS-EXCEL
報告制作功能 MS-WORD