菲希爾（Fischer）X射線熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金： X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量

菲希爾(Fischer)X射線熒光測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀，用于快速、無損分析黃金和銀合金： X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量，菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。

產品特點

        ?  菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優化設計；
        ?  配備固定的準直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
        ?  配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復雜的多元素分析
        ?  由下至上的測量方向，可以*簡便地實現樣品定位

典型應用領域包括         ?  珠寶、貴金屬和牙科合金         ?  黃白色黃金         ?  鉑和銀         ?  銠         ?  合金和涂層分析         ?  多層涂層分析

所有菲希爾X射線系統的特點是具有出色的精度和長期穩定性。重新校準的必要性大大降低，節省了時間和精力?，F代硅漂移探測器實現了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數法允許在不進行校準的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統。Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導體探測器組件位于儀器的下部，因此測量方向從樣品下方開始，樣品由透明窗口支撐。